[发明专利]一种高世代TFT玻璃A型架检测装置

说明书

本发明公开一种高世代TFT玻璃A型架检测装置，包括水平基座，水平基座顶面画有矩形标志线，矩形标志线作为A型架的放置区域；水平基座顶面两侧对称设有呈直角三角形的检测架，检测架的朝向与A型架的朝向相同、且检测架斜边的斜度与A型架相同；检测架设有定位挡板、标尺与测量尺等部件，通过个部件的配合可以对A型架的外形尺寸进行测量；本检测装置还包括架设于检测架上的方杆以及放置于A型架底板的基准面测量方杆，通过方杆和基准面测量方杆可以对A型架的背板平面度、底板平面度进行有效测量，提高检测精度，减小检测误差。

技术领域

本发明涉及玻璃制造辅助设备技术领域，具体是一种高世代TFT玻璃A型架检测装置。

背景技术

A型架是TFT玻璃包装、运输过程的必需品。TFT玻璃的生产、加工过程中均会使用A型架放置玻璃，由于这些环节都是使用机器人进行操作，所以对玻璃摆放的位置、角度、高度、平整度均有严格的要求。如果A型架自身质量不达标则很容易造成包装、运输过程中的破片或擦划伤，严重的会造成客户端取片时无法正常抓取而堵片。因此，在A型架入司前需要对其各部位进行严格的检测验收，才能投入使用。此外，A型架由于应力、外力等作用容易变形，在使用一段时间后也需要进行定期检测。对于高世代TFT玻璃而言，规格尺寸大，更易破碎，对A型架的要求更为严格，更需要提供一种精准的检测装置。

国内现有的检测手段，主要针对的是小世代TFT包装架，检测手段单一、检测方法简单：一是目测其制作的外观质量，如：材质、焊缝、烤漆、衬板粘贴牢固度等；二是使用传统的卷尺、塞尺等粗略地测量其长宽高外形尺寸。并未对A型架关键部位及其品质参数进行精确测量，如背板和底板的平面度，背板和底板的直角度与直线性，背板的倾角，底座的高度及定位位置，第一片和最后一片基板玻璃的定位位置等。

为了解决这个问题，发明专利《一种A型架检测平台》（申请号 201710000847 .3）和实用新型专利《玻璃基板包装用A型架的检测装置》（申请号 201621146516.8）分别提供了一种用于检测A型架的平台。但是，这两种检测平台只单纯的提供了一个检测背板平面度的基准面，对于A型架底座外形定位尺寸、底板平面度、第一张基板的位置等检测未进行针对性的解决。

由于高世代TFT玻璃规格尺寸大，一个低世代TFT玻璃A型架可以接受的误差，对于高世代TFT玻璃A型架在使用中会被放大数倍，从而影响包装、加工、运输，严重的甚至会影响客户端的使用，对TFT玻璃生产厂家造成难以挽回的不良影响及成本损失。

发明内容

本发明的目的在于提供一种高世代TFT玻璃A型架检测装置，该装置能够对A型架的各个参数进行有效地检测，保证后序玻璃摆放的安全可靠性。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种高世代TFT玻璃A型架检测装置，包括水平基座，水平基座顶面画有矩形标志线，矩形标志线作为A型架的放置区域；水平基座顶面两侧对称设有呈直角三角形的检测架，检测架的朝向与A型架的朝向相同、且检测架斜边的斜度与A型架相同；两个检测架底部之间连接有定位挡板，定位挡板用于对A型架底座进行定位，定位挡板设有用于对A型架底座后部长度进行测量的第一刻度；

检测架底边上方设有水平的第一标尺，第一标尺套设有第一滑块与第二滑块，第一滑块与第二滑块顶面分别连接有第一U形卡与第二U形卡，第一U形卡内水平横向设有第一测量尺，第二U形卡内设有呈L形的第二测量尺；第一标尺、第一测量尺与第二测量尺用于对A型架宽度、A型架底座前部长度进行测量；

检测架的顶角设有第二标尺，第二标尺与第一标尺的朝向相同，第二标尺套设有第三滑块，第三滑块顶面连接有第三U形卡，第三U形卡内设有呈L形的第三测量尺；第二标尺与第三测量尺用于对A型架高度以及第一张玻璃的放置位置进行测量。