[发明专利]升降式摄像装置的测试方法及其测试系统有效
申请号: | 201910826018.X | 申请日: | 2019-09-03 |
公开(公告)号: | CN112449176B | 公开(公告)日: | 2023-05-26 |
发明(设计)人: | 张锋;姜伟;朱文蓉 | 申请(专利权)人: | 浙江舜宇智能光学技术有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 上海领洋专利代理事务所(普通合伙) 31292 | 代理人: | 罗晓飞 |
地址: | 310052 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 升降 摄像 装置 测试 方法 及其 系统 | ||
本发明提供一种升降式摄像装置的测试方法,所述升降式摄像装置包括摄像模组和升降机构,包括:通过所述升降机构移动所述摄像模组,其中所述测试标板朝向所述摄像模组的一侧具有一测试标记;在升降过程中,通过所述摄像模组获取一系列所述测试标板的标板图像;以预设频率读取一系列所述标板图像中所述测试标记在像素坐标系下的像素坐标;基于所述测试标记在相机坐标系下的坐标与像素坐标系下的坐标之间的对应关系,确定一系列所述标板图像中所述测试标记在相机坐标系下的空间坐标;以及基于一系列所述测试标记的空间坐标,确定所述摄像模组的升降方向、升降时间和升降速度。所述升降式摄像装置的测试方法测试方法简单,测量精度高。
技术领域
本发明涉及摄像模组测试领域,更进一步地涉及一种升降式摄像装置的测试方法及其测试系统。
背景技术
随着科技的发展,越来越多的电子终端出于增大屏幕面积或者保护隐私的考虑而采用升降式摄像装置,升降式摄像装置一般由驱动电路、升降机构和摄像模组等组成。在升降式摄像装置的圣餐过程中需要对升降式摄像装置的升降方向、升降距离、升降时间以及升降速度进行测试。目前测试升降式摄像装置的升降机构的方法包括红外对射式传感器测试法、霍尔传感器测试法以及图像灰度测试法。在采用红外对射式传感器测试法进行测试时,需要在升降式摄像装置的升降机构上安装一个带有很多小孔的不透明塑料板,塑料板的两侧安装一组红外对射式传感器,升降机构在升降过程中会带动塑料板移动,红外传感器所发出的红外光能够穿过不透明塑料板上的小孔,并被检测到,遇到不透明塑料则不能够穿过并被检测到,通过计算测得的红外光的时间和次数,可测得升降机构的升降方向、升降距离、升降时间以及升降速度。但是采用红外对射式传感器测试方法不能够自动判断升降机构的升降方向、测试不全面,需要人工去判断升降方向,另外还需要购买红外对射式传感器和塑料板等,成本较高。
在采用霍尔传感器测试方法中,需要在升降机构上安装一块磁铁,在磁铁附近安装霍尔传感器,在升降机构的升降过程中会带动磁铁移动,霍尔传感器通过判断所测得的磁场变化来判断磁铁的位置,从而能够测得升降机构的位置变化。可以理解的是,采用霍尔传感器进行测试需要采购霍尔传感器和磁铁等,测试成本较高。
在采用图像灰度值测试方法中,需要将升降式摄像装置的升降机构和摄像模组安装在密闭的结构件内,在升降机构工作前,控制摄像模组拍照。当升降机构上升后,摄像模组身处密闭的结构件,并控制摄像模组拍照。当升降机构下降后,摄像模组再次回到密闭的结构件内,再次控制摄像模组拍照,通过比较所拍摄图像的灰度值来判断摄像模组是否处于密闭的结构件内,从而判断升降机构的升降方向。可以理解的是,采用图像灰度值测试方法只能够测试升降式摄像装置的升降机构的升降方向,测试数据不够全面,并且在测试过程中测试环境对测试结果影响较大,当测试环境光线较强时将会影响摄像模组在密闭构件内的拍照效果,从而影响测试效果。
本领域的技术人员应当理解的是,随着人们对电子终端拍照功能的需求的不断提升,越来越多的升降式摄像装置将被生产并被应用,如何能够在升降式摄像装置的升降机构的测试过程中提高测试精度降低测试成本将成为制约升降式摄像装置发展所必须解决的问题。
发明内容
本发明的一个目的在于提供一升降式摄像装置的测试方法及其测试系统,其中所述升降式摄像装置的测试方法测量结果精确。
本发明的另一个目的在于提供一升降式摄像装置的测试方法及其测试系统,其中所述升降式摄像装置的测试方法成本低。
本发明的另一个目的在于提供一升降式摄像装置的测试方法及其测试系统,其中所述升降式摄像装置的测试方法受环境因素影响较小,测试精度高。
本发明的另一个目的在于提供一升降式摄像装置的测试方法及其测试系统,其中所述升降式摄像装置的测试方法操作简单、测试数据全面。
本发明的另一个目的在于提供一升降式摄像装置的测试方法及其测试系统,其中所述升降式摄像装置的测试方法通过所获取的测试标记的图像坐标的变化确定摄像模组的升降,测量精度高,便于操作。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江舜宇智能光学技术有限公司,未经浙江舜宇智能光学技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910826018.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。