[发明专利]测试芯片及电子设备的测试方法

权利要求书

1.一种测试芯片，其特征在于，所述测试芯片包括CPLD可编程逻辑器件、数据选择器、第一接口和第二接口，所述CPLD经所述数据选择器与所述第一接口及所述第二接口连接，所述第一接口用于与电子设备的中央控制器连接，所述第二接口用于与所述电子设备的存储器连接；所述CPLD控制所述数据选择器连通所述第二接口，以通过所述第二接口读取所述存储器中的烧录标识，并在根据所述烧录标识判定所述存储器中的基本输入输出系统固件烧录成功时，控制所述数据选择器连通所述第一接口和所述第二接口；

所述测试芯片还包括第三接口，所述CPLD经所述第三接口与电子设备的开机控制芯片连接，所述CPLD还用于在判定所述存储器烧录成功时，向所述开机控制芯片发送开机控制信号，以控制所述电子设备执行开机动作。

2.如权利要求1所述的测试芯片，其特征在于，所述测试芯片还包括拨码开关，所述CPLD中保存有多个用于实现不同功能的固件，所述CPLD在读取到所述拨码开关对应的拨码值时，根据所述拨码值在多个所述固件中选定目标固件，并执行所述目标固件。

3.如权利要求1所述的测试芯片，其特征在于，所述测试芯片还包括指示灯，所述指示灯与所述CPLD连通，用于输出所述CPLD的工作状态。

4.如权利要求1所述的测试芯片，其特征在于，所述测试芯片还包括烧录座，所述烧录座经数据选择器与所述CPLD通信连接，所述烧录座设置为向所述CPLD中烧录控制固件。

5.一种电子设备的测试方法，其特征在于，所述电子设备的测试方法应用于如权利要求1-4任一项所述的测试芯片，所述电子设备的测试方法包括以下步骤：

CPLD控制所述数据选择器连通第二接口，并通过所述第二接口读取存储器中的烧录标识；

在根据所述烧录标识判定所述存储器中的固件烧录成功时，控制所述数据选择器连通第一接口和所述第二接口，以使中央处理器读取并运行所述存储器中保存的基本输入输出系统固件。

6.如权利要求5所述的电子设备的测试方法，其特征在于，所述CPLD控制所述数据选择器连通第二接口的步骤之后，还包括：

所述CPLD通过所述第二接口获取所述存储器中的基本输入输出系统固件的固件类型，其中，所述固件类型包括通用固件和专用固件；

输出所述固件类型。

7.如权利要求5所述的电子设备的测试方法，其特征在于，所述CPLD控制所述数据选择器连通第二接口，并通过所述第二接口读取存储器中的烧录标识的步骤包括：

所述CPLD通过所述第二接口读取所述存储器中预设寄存器的数值，并将所述数值作为所述烧录标识。

8.如权利要求5所述的电子设备的测试方法，其特征在于，所述CPLD控制所述数据选择器连通第二接口，并通过所述第二接口读取存储器中的烧录标识的步骤之后，还包括：

在所述CPLD检测到所述存储器中的固件烧录成功时，所述CPLD向通过第三接口开机控制芯片发送开机控制信号，其中，所述开机控制芯片在接收到所述开机控制信号时，控制电子设备执行开机动作；

执行所述控制所述数据选择器连通第一接口和所述第二接口的步骤。

9.如权利要求5所述的电子设备的测试方法，其特征在于，所述CPLD控制所述数据选择器连通第二接口，并通过所述第二接口读取存储器中的烧录标识的步骤之前，还包括：

所述CPLD获取拨码开关的拨码值；

在所述拨码值为预设码值时，执行所述CPLD控制所述数据选择器连通第二接口的步骤。