[发明专利]测试芯片及电子设备的测试方法

说明书

本发明公开了一种测试芯片，所述测试芯片包括CPLD可编程逻辑器件、数据选择器、第一接口和第二接口，所述CPLD经所述数据选择器与所述第一接口及所述第二接口连接，所述第一接口用于与电子设备的中央控制器连接，所述第二接口用于与所述电子设备的存储器连接；所述CPLD控制所述数据选择器连通所述第二接口，以通过所述第二接口读取所述存储器中的烧录标识，并在根据所述烧录标识判定所述存储器中的基本输入输出系统固件烧录成功时，控制所述数据选择器连通所述第一接口和所述第二接口。本发明还公开了一种电子设备的测试方法，达成了提高电子设备出厂产品的合格率的效果。

技术领域

本发明涉及电子电器技术领域，尤其涉及测试芯片及电子设备的测试方法。

背景技术

在电子设备中，当用户需要对电子设备进行开机操作时，CPU（中央处理器）需要通过加密芯片获取电子设备的BIOS（Basic Input Output System，基本输入输出系统）只读存储器中保存的BIOS固件，以基于所述BIOS固件执行开机动作。

但是因加密芯片为技术秘密，因此客户无法为生产厂家提供加密芯片，以供厂家在电子设备出厂前进行开机检测。导致电子设备生产厂家无法在加密电子产品出厂前对其进行测试，这样导致出厂产品的不合格率较高。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种测试芯片及电子设备的测试方法，旨在达成提高出厂产品的合格率的效果。

为实现上述目的，本发明提供一种测试芯片，所述测试芯片包括CPLD可编程逻辑器件、数据选择器、第一接口和第二接口，所述CPLD经所述数据选择器与所述第一接口及所述第二接口连接，所述第一接口用于与电子设备的中央控制器连接，所述第二接口用于与所述电子设备的存储器连接；所述CPLD控制所述数据选择器连通所述第二接口，以通过所述第二接口读取所述存储器中的烧录标识，并在根据所述烧录标识判定所述存储器中的基本输入输出系统固件烧录成功时，控制所述数据选择器连通所述第一接口和所述第二接口。

可选地，所述测试芯片还包括第三接口，所述CPLD经所述第三接口与电子设备的开机控制芯片连接，所述CPLD还用于在判定所述存储器烧录成功时，向所述开机控制芯片发送开机控制号，以控制所述电子设备执行开机动作。

可选地，所述测试芯片还包括拨码开关，所述CPLD中保存有多个用于实现不同功能的固件，所述CPLD在读取到所述拨码开关对应的拨码值时，根据所述拨码值在多个所述固件中选定目标固件，并执行所述目标固件。

可选地，所述测试芯片还包括指示灯，所述指示灯与所述CPLD连通，用于输出所述CPLD的工作状态。

可选地，所述测试芯片还包括烧录座，所述烧录座经数据选择器与所述CPLD通信连接，所述烧录座设置为向所述CPLD中烧录控制固件。

此外本发明还提供一种电子设备的测试方法，所述电子设备的测试方法应用于如上所述的测试芯片，所述电子设备的测试方法包括以下步骤：

CPLD控制所述数据选择器连通第二接口，并通过所述第二接口读取存储器中的烧录标识；

在根据所述烧录标识判定所述存储器中的固件烧录成功时，控制所述数据选择器连通第一接口和所述第二接口，以使中央处理器读取并运行所述存储器中保存的基本输入输出系统固件。

可选地，所述CPLD控制所述数据选择器连通第二接口的步骤之后，还包括：

所述CPLD通过所述第二接口获取所述存储器中的基本输入输出系统固件的固件类型，其中，所述固件类型包括通用固件和专用固件；

输出所述固件类型。

可选地，所述CPLD控制所述数据选择器连通第二接口，并通过所述第二接口读取存储器中的烧录标识的步骤包括：