[发明专利]屏蔽玻璃缺陷检测方法在审
申请号: | 201910830651.6 | 申请日: | 2019-09-04 |
公开(公告)号: | CN110567989A | 公开(公告)日: | 2019-12-13 |
发明(设计)人: | 刘国忠;刘金;郝思忠 | 申请(专利权)人: | 北京信息科技大学 |
主分类号: | G01N21/958 | 分类号: | G01N21/958 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100192 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 屏蔽玻璃 检测 玻璃缺陷 机器视觉技术 玻璃 电动云台 均匀背景 平行光照 全面检测 缺陷检测 缺陷结果 缺陷位置 软件界面 正反两面 自动检测 激光器 变色 光源 光照 验收 | ||
本发明涉及了一种运用机器视觉技术对屏蔽玻璃缺陷自动检测的方法,解决了屏蔽玻璃内外缺陷检测困难的问题,该方法包括:均匀背景光照明方式,用来检测变色、以及大尺寸的缺陷等;平行光照明方式,用于检测小尺寸的缺陷;玻璃缺陷的检测方法,控制多个光源对屏蔽玻璃进行单面或正反两面检测;玻璃缺陷的验收方法,根据检测的缺陷结果,在软件界面选择缺陷,利用电动云台激光器在玻璃上指示出缺陷位置并进行人工判别。通过该方法对玻璃进行全面检测,提高使用屏蔽玻璃的安全性。
技术领域
本发明涉及一种屏蔽玻璃缺陷检测方法及其系统,具体涉及利用机器视觉技术进行图像采集,实现屏蔽玻璃产品以及玻璃原片缺陷的自动检测方法。
背景技术
电磁辐射是由于电荷移动导致空间中电磁能量的移动所产生的,是一种电磁波向空中发射或泄露的现象。随着当今世界电气电子技术的发展以及手机、电脑等电子产品的应用,目前人类生活中的电磁环境越来越复杂多样,人们受电磁辐射的影响也越来越严重。电磁波辐射已被世界卫生组织列为第四大环境污染源,不仅影响了许多电子设备的工作以及相关公司的正常运营,还对人体有极大的危害。与此同时,在军事应用领域,电磁辐射有可能导致国家机密信息的泄露。因此,为了消除电磁辐射带来的危害,电磁屏蔽技术显得十分重要。
电磁屏蔽技术是利用屏蔽物体组织电磁波传播的一种方法,即对电磁干扰源进行封闭,有效地阻止电磁能量从屏蔽材料一侧传递到另一侧。作为电磁屏蔽的有效材料,要满足以下要求:屏蔽材料具有连续导电性,并且材料内的导体不能被直接穿透。
通过对电磁屏蔽技术的深入研究,为了人们的生活财产安全,研究人员研发了一种屏蔽玻璃,对信号干扰进行屏蔽。电磁屏蔽玻璃是经过特殊工艺处理,在玻璃表面覆盖导电涂层或在玻璃种夹入特殊介质,实现对电磁波的阻挡和衰减,达到阻挡电磁波穿透、保护个人国家信息等作用。屏蔽玻璃必须要有良好的透光性和可视性,透过屏蔽玻璃的图像要有高保真、高清晰的特点。屏蔽玻璃主要有夹金属丝网屏蔽玻璃、镀膜屏蔽玻璃和镀膜玻璃夹金丝网的屏蔽玻璃等几种。
屏蔽玻璃要发挥其作用,就要尽可能保证玻璃的完整性,避免瑕疵出现,因此,对屏蔽玻璃进行缺陷检测是十分重要的一个环节。在生产过程中,检测出缺陷的屏蔽玻璃可以返厂重新加工;在长期应用中,对使用过的屏蔽玻璃进行检测,发现缺陷可以及时更换。尤其是在军事应用领域,能及时并全面检测屏蔽玻璃的缺陷性,对保护信息安全十分重要。
到目前为止,对屏蔽玻璃的缺陷检测,在检测时间、精度和全面性上都有待提高。本发明实例提出基于屏蔽玻璃的缺陷自动检测技术,通过两种照明方式,分别对大尺寸缺陷和小尺寸缺陷进行检测,完成对屏蔽玻璃的验收。
发明内容
本发明要解决的技术问题是屏蔽玻璃的缺陷检测,利用机器视觉技术标记缺陷位置,实现对屏蔽玻璃缺陷的自动检测。
为了解决上述技术问题,本发明提出了一种利用均匀背景光照明和蓝色平行光照明相结合的方法,采集照明下的图像进行自动检测,包括:
步骤a,利用多个光源、计算机1、二轴控制器2、光源控制器3、高分辨率工业面阵相机4、高分辨率工业镜头5、双远心镜头10、屏蔽玻璃6、相关夹具7和二维电动工作台8等搭建屏蔽玻璃检测系统;
步骤b,对屏蔽玻璃6进行均匀背景光照明,进行大尺寸缺陷的自动检测;
步骤c,对屏蔽玻璃6进行平行光照明,进行小尺度缺陷的检测;
步骤d,对检测结果进行验收,通过电动云台激光器指示缺陷所在位置,并对缺陷类型进行人工判别。
其中,步骤b具体包括:
步骤b1,计算机1通过光源控制器3调节背景光源的亮度,适应环境光强以及样品的变化;
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