[发明专利]存储装置以及存储装置的操作方法

权利要求书

1.一种存储装置，包括：

非易失性存储器装置，其包括多个存储器块，其中每个存储器块包括连接到多条字线的多个存储器单元；以及

控制器，其被配置为基于外部主机装置的请求对所选存储器块中包括的连接到所选字线的存储器单元执行第一读取操作，

其中，所述控制器还被配置为在执行所述第一读取操作之后执行检查读取操作，所述检查读取操作检查所述所选存储器块的存储器单元的可靠性，

其中，在所述检查读取操作中，所述控制器还被配置为选择并执行实际检查和基于机器学习的检查中的一个，所述实际检查直接地和实际地检查所述所选存储器块的存储器单元的实际错误数量，所述基于机器学习的检查基于机器学习确定所述所选存储器块的存储器单元的预期错误数量。

2.根据权利要求1所述的存储装置，其中，当选择所述实际检查时，所述控制器对所述所选存储器块中的连接到检查目标字线的存储器单元执行第二读取操作，并且通过对所述第二读取操作的结果执行纠错解码来对错误数量进行计数。

3.根据权利要求1所述的存储装置，其中，当选择所述基于机器学习的检查时，所述控制器被配置为对所述所选存储器块中的连接到检查目标字线的存储器单元执行样本读取操作，并且通过使用所述样本读取操作的结果和所述存储装置的信息基于机器学习来确定预期错误数量。

4.根据权利要求3所述的存储装置，其中，所述存储装置的信息包括以下中的至少一个：所述非易失性存储器装置在晶圆上的位置、所述所选存储器块的地址、对所述所选存储器块执行擦除操作的次数、所述检查目标字线的地址、在连接到所述检查目标字线的存储器单元被编程之后逝去的时间、先前对所述所选存储器块执行的读取操作的数量、在所述所选存储器块被编程之前所述所选存储器块单独处于擦除状态的持续时间、当前温度、和当前湿度。

5.根据权利要求1所述的存储装置，其中，所述基于机器学习的检查使用基于以下中的至少一个生成的模型：神经网络、决策树、支持向量机、和线性回归模型。

6.根据权利要求1所述的存储装置，其中，所述所选存储器块的字线被划分为多个区域，并且每个区域包括两条或更多条字线，

其中，当选择所述基于机器学习的检查时，所述控制器共同确定检查目标区域中的所述两条或更多条字线的预期错误数量。

7.根据权利要求1所述的存储装置，其中，当选择所述基于机器学习的检查时，所述控制器基于机器学习来确定所述所选存储器块中的连接到检查目标字线的存储器单元的预期错误数量，

其中，当所述预期错误数量至少等于第一阈值时，所述控制器被配置为通过对所述检查目标字线执行所述实际检查来进一步确定实际错误数量。

8.根据权利要求7所述的存储装置，其中，当通过所述实际检查检测到的实际错误数量至少等于第二阈值时，所述控制器对所述所选存储器块进一步执行刷新操作。

9.根据权利要求7所述的存储装置，其中，所述控制器基于在所述实际检查中检测到的实际错误数量与在所述基于机器学习的检查中确定的预期错误数量之间的差来调节所述第一阈值。

10.根据权利要求1所述的存储装置，其中，所述控制器还被配置为：

生成分别与所述存储器块对应的多个随机数；

对对所述存储器块中的每一个执行的读取操作的数量进行计数；以及

当所述所选存储器块的读取操作的数量达到与所述所选存储器块对应的随机数时，对所述所选存储器块执行所述检查读取操作。

11.根据权利要求10所述的存储装置，其中，当执行所述检查读取操作时，所述控制器重置所述所选存储器块的读取操作的数量并重新生成与所述所选存储器块对应的随机数。