[发明专利]探头覆盖率测试方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种探头覆盖率测试方法，其特征在于，用于对探头的覆盖率进行测试，所述探头包括多个接收通道，所述探头活动设置于测试件的第一侧面开设的滑槽中，所述测试件的第二侧面开设有平底孔，所述第一侧面和所述第二侧面为所述测试件的相对面，所述方法包括：

当所述探头在所述滑槽中沿设定方向进行移动时，获取所述多个接收通道采集的第一超声波；其中，所述第一超声波为第二超声波在所述平底孔处的反射波，所述第二超声波是由所述探头发出的；

根据所述第一超声波和所述探头在所述设定方向上的位置，得到波高曲线图；

根据所述波高曲线图，确定出所述探头的叠加余量；

根据所述叠加余量，判断所述探头的覆盖率是否合格；

所述探头包括沿所述设定方向依次排列的第一接收通道、第二接收通道和第三接收通道，所述当所述探头在所述滑槽中沿设定方向进行移动时，获取所述多个接收通道采集的第一超声波，包括：

当所述探头在所述滑槽中沿所述设定方向进行移动时，分别获取所述第一接收通道、所述第二接收通道和所述第三接收通道采集的第一超声波；

所述波高曲线图中包括第一波高曲线、第二波高曲线和第三波高曲线，其中，所述第一波高曲线根据所述位置和所述第一接收通道采集的第一超声波得到，所述第二波高曲线根据所述位置和所述第二接收通道采集的第一超声波得到，所述第三波高曲线根据所述位置和所述第三接收通道采集的第一超声波得到，所述根据所述波高曲线图，确定出所述探头的叠加余量，包括：

从所述第一波高曲线、所述第二波高曲线和所述第三波高曲线中确定出最大波高值；

根据所述最大波高值和预设波高值增量，得到参考波高值；

确定出所述第一波高曲线和所述第二波高曲线的交叉点处的第一波高值，以及所述第二波高曲线和所述第三波高曲线的交叉点处的第二波高值；

根据所述第一波高值、所述第二波高值和所述参考波高值，确定出所述探头的叠加余量；

所述根据所述第一波高值、所述第二波高值和所述参考波高值，确定出所述探头的叠加余量，包括：

根据所述第一波高值和所述参考波高值，确定出所述探头的第一叠加余量；

根据所述第二波高值和所述参考波高值，确定出所述探头的第二叠加余量。

2.根据权利要求1所述的探头覆盖率测试方法，其特征在于，所述根据所述叠加余量，判断所述探头的覆盖率是否合格，包括：

判断所述第一叠加余量和所述第二叠加余量是否均大于等于零；

若所述第一叠加余量和所述第二叠加余量均大于等于零，判定所述探头的覆盖率合格；

若所述第一叠加余量小于零或所述第二叠加余量小于零，判定所述探头的覆盖率未合格。

3.一种实现权利要求1-2任一项 所述的探头覆盖率测试方法的探头覆盖率测试装置，其特征在于，用于对探头的覆盖率进行测试，所述探头包括多个接收通道，所述探头活动设置于测试件的第一侧面开设的滑槽中，所述测试件的第二侧面开设有平底孔，所述第一侧面和所述第二侧面为所述测试件的相对面，所述装置包括：

第一超声波获取模块，用于当所述探头在所述滑槽中沿设定方向进行移动时，获取所述多个接收通道采集的第一超声波；其中，所述第一超声波为第二超声波在所述平底孔处的反射波，所述第二超声波是由所述探头发出的；

波高曲线图确定模块，用于根据所述第一超声波和所述探头在所述设定方向上的位置，得到波高曲线图；

叠加余量确定模块，用于根据所述波高曲线图，确定出所述探头的叠加余量；

覆盖率测试模块，用于根据所述叠加余量，判断所述探头的覆盖率是否合格。