[发明专利]探头覆盖率测试方法、装置及电子设备

说明书

本发明实施例涉及超声波探伤技术领域，具体而言，涉及一种探头覆盖率测试方法、装置及电子设备。在该方法中，当探头在滑槽中沿设定方向进行移动时，能够获取探头的多个接收通道采集的第一超声波，并根据第一超声波和探头在所述设定方向上的位置，得到波高曲线图，然后根据波高曲线图，确定出探头的叠加余量，从而根据叠加余量，判断探头的覆盖率是否合格，如此，能够获取同时处于工作状态的多个接收通道采集的第一超声波，从而将多个接收通道的重叠现象考虑在内，避免单独对测试每个接收通道的覆盖率，如此，能够实现对探头覆盖率的准确测试，进而能够准确地判断探头覆盖率是否合格。

技术领域

本发明实施例涉及超声波探伤技术领域，具体而言，涉及一种探头覆盖率测试方法、装置及电子设备。

背景技术

超声波探伤是利用超声能透入材料的深处，并由一截面进入另一截面时，在界面边缘发生反射的特点来检查材料的一种方法，当超声波自材料表面由探头通至材料内部，遇到缺陷与材料底面时就分别发生反射波，在荧光屏上形成脉冲波形，根据这些脉冲波形来判断缺陷位置和大小。双联合收发(Transmit-Receive，TR)探头作为一种常见的超声波探头，已经被广泛应用于各个领域。TR探头包括一发多收和多发多收两种类型，一发多收是指TR探头包括一个发射通道和多个接收通道，多发多收是指TR探头包括多个发射通道和多个接收通道，由于TR探头都是多接收通道的类型，因此，TR探头的覆盖率成为衡量TR探头是否合格的一个重要指标。但是现有技术难以对TR探头的覆盖率进行准确测试。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种探头覆盖率测试方法、装置及电子设备。

本发明实施例提供了一种探头覆盖率测试方法，用于对探头的覆盖率进行测试，所述探头包括多个接收通道，所述探头活动设置于测试件的第一侧面开设的滑槽中，所述测试件的第二侧面开设有平底孔，所述第一侧面和所述第二侧面为所述测试件的相对面，所述方法包括：

当所述探头在所述滑槽中沿设定方向进行移动时，获取所述多个接收通道采集的第一超声波；其中，所述第一超声波为第二超声波在所述平底孔处的反射波，所述第二超声波是由所述探头发出的；

根据所述第一超声波和所述探头在所述设定方向上的位置，得到波高曲线图；

根据所述波高曲线图，确定出所述探头的叠加余量；

根据所述叠加余量，判断所述探头的覆盖率是否合格。

可选地，所述探头包括沿所述设定方向依次排列的第一接收通道、第二接收通道和第三接收通道，所述当所述探头在所述滑槽中沿设定方向进行移动时，获取所述多个接收通道采集的第一超声波，包括：

当所述探头在所述滑槽中沿所述设定方向进行移动时，分别获取所述第一接收通道、所述第二接收通道和所述第三接收通道采集的第一超声波。

可选地，所述波高曲线图中包括第一波高曲线、第二波高曲线和第三波高曲线，其中，所述第一波高曲线根据所述位置和所述第一接收通道采集的第一超声波得到，所述第二波高曲线根据所述位置和所述第二接收通道采集的第一超声波得到，所述第三波高曲线根据所述位置和所述第三接收通道采集的第一超声波得到，所述根据所述波高曲线图，确定出所述探头的叠加余量，包括：

从所述第一波高曲线、所述第二波高曲线和所述第三波高曲线中确定出最大波高值；

根据所述最大波高值和预设波高值增量，得到参考波高值；

确定出所述第一波高曲线和所述第二波高曲线的交叉点处的第一波高值，以及所述第二波高曲线和所述第三波高曲线的交叉点处的第二波高值；

根据所述第一波高值、所述第二波高值和所述参考波高值，确定出所述探头的叠加余量。

可选地，所述根据所述第一波高值、所述第二波高值和所述参考波高值，确定出所述探头的叠加余量，包括：