[发明专利]一种面板缺陷分层检测装置和方法

说明书

本发明属于面板检测技术领域，公开了一种面板缺陷分层检测装置和方法，装置包括：第一成像单元、第二成像单元、光源；成像单元均包括相机组件、偏光元件；方法包括：打开光源，光源产生的光垂直入射至待测面板的侧面；将第一偏光元件、第二偏光元件的透光轴方向分别调节至与待测面板的内偏光层的透光轴方向平行；通过第一相机组件、第二相机组件分别获得第一图像、第二图像；根据第一图像、第二图像得到第一检测信息。本发明解决了现有技术中无法区分面板表面缺陷和面板内部缺陷的问题，本发明能够判断出缺陷位置，实现表层灰尘过滤。

技术领域

本发明涉及面板检测技术领域，尤其涉及一种面板缺陷分层检测装置和方法。

背景技术

在面板外观缺陷自动化检测领域，通常无法有效区分缺陷位于面板内部还是外部。比如，盖板玻璃(CG玻璃)需要贴合在上偏光片或面板之上，在CG玻璃与偏光片之间容易夹入了灰尘(particle)，当灰尘为微米级别时，造成CG玻璃与上偏光片之间形成贴合异物缺陷，这种贴合异物缺陷会导致次品产生。而外部有些缺陷(比如灰尘、脏污等)可以通过清洁去掉，并不影响品质。因此，有效进行缺陷分层有巨大的价值。鉴于现有技术无法将面板表面的缺陷和面板内部的缺陷区分开来，因此亟需找到一种装置和方法来对面板缺陷进行分层检测。

发明内容

本申请实施例通过提供一种面板缺陷分层检测装置和方法，解决了现有技术中无法区分面板表面缺陷和面板内部缺陷的问题。

本申请实施例提供一种面板缺陷分层检测装置，待测面板具有内偏光层、上表面层、下表面层，所述内偏光层位于所述上表面层和所述下表面层之间，检测装置包括：

第一成像单元，所述第一成像单元设置于所述待测面板的所述上表面层的上方；所述第一成像单元包括第一相机组件、第一偏光元件，所述第一偏光元件位于所述第一相机组件与所述待测面板之间；所述第一偏光元件的透光轴方向可调；

第二成像单元，所述第二成像单元设置于所述待测面板的所述下表面层的下方；所述第二成像单元包括第二相机组件、第二偏光元件，所述第二偏光元件位于所述第二相机组件与所述待测面板之间；所述第二偏光元件的透光轴方向可调；

光源，所述光源设置于所述待测面板的侧面，所述光源产生的光垂直入射至所述待测面板的侧面。

优选的，所述面板缺陷分层检测装置还包括：PC端；所述PC端分别与所述光源、所述第一相机组件、所述第二相机组件、所述第一偏光元件、所述第二偏光元件连通。

优选的，所述第一偏振元件、所述第二偏振元件为线偏振片。

优选的，所述第一偏振元件、所述第二偏振元件为圆偏振片。

优选的，所述光源包括：第一光源、第二光源；所述第一光源、所述第二光源分别设置于所述待测面板的两侧。

优选的，所述第一相机组件包括第一相机、第一测试镜头，所述第一测试镜头安装在所述第一相机上；所述第二相机组件包括第二相机、第二测试镜头，所述第二测试镜头安装在所述第二相机上。

利用上述装置，本申请实施例提供一种面板缺陷分层检测方法，包括以下步骤：

步骤1、打开所述光源，所述光源产生的光垂直入射至所述待测面板的侧面；

步骤2、将所述第一偏光元件、所述第二偏光元件的透光轴方向分别调节至与所述内偏光层的透光轴方向平行；

步骤3、通过所述第一相机组件获得第一图像，通过所述第二相机组件获得第二图像；

步骤4、根据所述第一图像、所述第二图像得到第一检测信息。

优选的，所述步骤3中，所述第一相机组件和所述第二相机组件同步进行图像采集。