[发明专利]云计算性能测试方法、装置、设备及存储介质有效
申请号: | 201910848570.9 | 申请日: | 2019-09-09 |
公开(公告)号: | CN112463576B | 公开(公告)日: | 2023-09-12 |
发明(设计)人: | 张靖 | 申请(专利权)人: | 北京东土科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 100041 北京市石景*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 计算 性能 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种云计算性能测试方法,其特征在于,应用于云计算平台,包括:
获取与待测项对应的测试用例和待测参数集合;
依次将所述待测参数集合中的各待测参数设置为目标参数,并对所述目标参数进行至少两次取值更新;
根据所述测试用例,依次对至少两个更新后的待测参数集合进行测试,得到所述目标参数的局部瓶颈值;
将各所述待测参数的局部瓶颈值的集合,作为所述待测项的性能瓶颈;
所述待测参数集合还包括各待测参数的类型与取值范围;
对所述目标参数进行至少两次取值更新,包括:
根据所述目标参数的类型,确定所述目标参数的参数值选取方式;
按照所述参数值选取方式,从所述目标参数的取值范围中选取至少两个目标参数值;
根据所述目标参数的类型,确定所述目标参数的参数值选取方式,包括:
如果所述目标参数为枚举类型,则所述目标参数的参数值选取方式为:将所述目标参数的取值范围中的各个参数值依次选取为目标参数值;
如果所述目标参数为连续类型,则所述目标参数的参数选取方式为:根据模式搜索算法或者二分法从所述目标参数的取值范围中逐个选取目标参数值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述测试用例,依次对至少两个更新后的待测参数集合进行测试,得到所述目标参数的局部瓶颈值,包括:
依次将各个更新后的待测参数集合选择为当前待测参数集合;
编译所述测试用例,并调用所述当前待测参数集合,生成目标代码;
执行所述目标代码,计算与所述当前待测参数集合中的目标参数值对应的性能值;
将与最高性能值对应的目标参数值作为所述目标参数的局部瓶颈值。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在根据所述测试用例,依次对至少两个更新后的待测参数集合进行测试,得到所述目标参数的局部瓶颈值之后,还包括:
利用所述目标参数的局部瓶颈值,替换所述待测参数集合中的目标参数。
4.一种云计算性能测试装置,其特征在于,应用于云计算平台,包括:
数据获取模块,用于获取与待测项对应的测试用例和待测参数集合;
取值更新模块,用于依次将所述待测参数集合中的各待测参数设置为目标参数,并对所述目标参数进行至少两次取值更新;
瓶颈值获取模块,用于根据所述测试用例,依次对至少两个更新后的待测参数集合进行测试,得到所述目标参数的局部瓶颈值;
性能瓶颈确定模块,用于将各所述待测参数的局部瓶颈值的集合,作为所述待测项的性能瓶颈;
取值更新模块,包括:
取值方式确定单元,用于根据目标参数的类型,确定目标参数的参数值选取方式;
取值单元,用于按照参数值选取方式,从目标参数的取值范围中选取至少两个目标参数值;
取值方式确定单元,具体用于:如果目标参数为枚举类型,则目标参数的参数值选取方式为:将目标参数的取值范围中的各个参数值依次选取为目标参数值;如果目标参数为连续类型,则目标参数的参数选取方式为:根据模式搜索算法或者二分法从目标参数的取值范围中逐个选取目标参数值。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述待测参数集合还包括各待测参数的类型与取值范围;
所述取值更新模块,包括:
取值方式确定单元,用于:根据所述目标参数的类型,确定所述目标参数的参数值选取方式;
取值单元,用于按照所述参数值选取方式,从所述目标参数的取值范围中选取至少两个目标参数值。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述取值方式确定单元,具体用于:
如果所述目标参数为枚举类型,则所述目标参数的参数值选取方式为:将所述目标参数的取值范围中的各个参数值依次选取为目标参数值;
如果所述目标参数为连续类型,则所述目标参数的参数选取方式为:根据模式搜索算法或者二分法从所述目标参数的取值范围中逐个选取目标参数值。
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