[发明专利]云计算性能测试方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201910848570.9 申请日: 2019-09-09
公开(公告)号: CN112463576B 公开(公告)日: 2023-09-12
发明(设计)人: 张靖 申请(专利权)人: 北京东土科技股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 100041 北京市石景*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 计算 性能 测试 方法 装置 设备 存储 介质
【说明书】:

发明实施例公开了一种云计算性能测试方法、装置、设备及存储介质。该方法应用于云计算平台,包括:获取与待测项对应的测试用例和待测参数集合;依次将所述待测参数集合中的各待测参数设置为目标参数,并对所述目标参数进行至少两次取值更新;根据所述测试用例,依次对至少两个更新后的待测参数集合进行测试,得到所述目标参数的局部瓶颈值;将各所述待测参数的局部瓶颈值的集合,作为所述待测项的性能瓶颈。本发明实施例的技术方案,实现了自动对云计算平台的应用程序进行性能测试,提高了测试效率和测试准确性。

技术领域

本发明实施例涉及测试技术领域,尤其涉及一种云计算性能测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

云计算是一种按使用量付费的模式,这种模式通过提供可用的、便捷的、按需的网络访问,进入可配置的计算资源共享池,来为用户快速提供资源使用。

目前,对于云计算平台的应用程序的各项性能指标,都是利用第三方测试工具,通过手动改变参数来预测各指标的性能瓶颈。但是,现有的第三方测试工具在使用时的可选参数较多,并且需要人工来改变参数,导致在实际测试时难以准确测出各指标的性能瓶颈,并且耗费大量的测试时间。

发明内容

本发明实施例提供一种云计算性能测试方法、装置、设备及存储介质,以实现自动对云计算平台的应用程序进行性能测试,提高测试效率和测试准确性。

第一方面,本发明实施例提供了一种云计算性能测试方法,应用于云计算平台,包括:

获取与待测项对应的测试用例和待测参数集合;

依次将待测参数集合中的各待测参数设置为目标参数,并对目标参数进行至少两次取值更新;

根据测试用例,依次对至少两个更新后的待测参数集合进行测试,得到目标参数的局部瓶颈值;

将各待测参数的局部瓶颈值的集合,作为待测项的性能瓶颈。

可选的,待测参数集合还包括各待测参数的类型与取值范围;

对目标参数进行至少两次取值更新,包括:

根据目标参数的类型,确定目标参数的参数值选取方式;

按照参数值选取方式,从目标参数的取值范围中选取至少两个目标参数值。

可选的,根据目标参数的类型,确定目标参数的参数值选取方式,包括:

如果目标参数为枚举类型,则目标参数的参数值选取方式为:将目标参数的取值范围中的各个参数值依次选取为目标参数值;

如果目标参数为连续类型,则目标参数的参数选取方式为:根据模式搜索算法或者二分法从目标参数的取值范围中逐个选取目标参数值。

可选的,根据测试用例,依次对至少两个更新后的待测参数集合进行测试,得到目标参数的局部瓶颈值,包括:

依次将各个更新后的待测参数集合选择为当前待测参数集合;

编译测试用例,并调用当前待测参数集合,生成目标代码;

执行目标代码,计算与当前待测参数集合中的目标参数值对应的性能值;

将与最高性能值对应的目标参数值作为目标参数的局部瓶颈值。

可选的,在根据测试用例,依次对至少两个更新后的待测参数集合进行测试,得到目标参数的局部瓶颈值之后,还包括:

利用目标参数的局部瓶颈值,替换待测参数集合中的目标参数。

第二方面,本发明实施例还提供了一种云计算性能测试装置,应用于云计算平台,包括:

数据获取模块,用于获取与待测项对应的测试用例和待测参数集合;

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