[发明专利]6750nm长波通红外滤光敏感元件在审
申请号: | 201910850023.4 | 申请日: | 2019-09-09 |
公开(公告)号: | CN110456436A | 公开(公告)日: | 2019-11-15 |
发明(设计)人: | 吕晶;严浪;刘晶 | 申请(专利权)人: | 杭州麦乐克科技股份有限公司 |
主分类号: | G02B5/20 | 分类号: | G02B5/20 |
代理公司: | 33289 杭州裕阳联合专利代理有限公司 | 代理人: | 姚宇吉<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 311100浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 镀膜层 长波 交替设置 敏感元件 基板 滤光 性能参数 | ||
本发明公开一种6750nm长波通红外滤光敏感元件,包括基板、第一镀膜层和第二镀膜层,其中基板设于第一镀膜层和第二镀膜层之间,其中第一镀膜层包括12组交替设置的Ge层和ZnS层,第二镀膜层包括13组交替设置的Ge层和ZnS层。本发明所设计的6750nm长波通红外滤光敏感元件的性能参数最佳可达到:5%Cut on=6750±50nm,6900~14000nm,Tavg≥86%,7000~14000nm,Tavg≥84%,3200~6500nm,Tavg≤3%。
技术领域
本发明涉及红外滤光敏感元件领域,尤其是一种6750nm长波通红外滤光敏感元件。
背景技术
红外热成像仪(热成像仪或红外热成像仪)是通过非接触探测红外能量(热量),并将其转换为电信号,进而在显示器上生成热图像和温度值,并可以对温度值进行计算的一种检测设备。红外热成像仪(热成像仪或红外热成像仪)能够将探测到的热量精确量化或测量,使您不仅能够观察热图像,还能够对发热的故障区域进行准确识别和严格分析。
红外热成像仪的探测器是实现红外能量(热能)转换电信号的关键,由于各种生物所发出来的红外能量(热能)是不同的,所以在日常使用中为了观察某种特定生物的热图像,人们往往会在探测器中添加红外滤光片,通过红外滤光片可以使探测器只接受特定波段的红外能量(热能),保证红外热成像仪的成像结果。
但是,目前的红外滤光敏感元件,其信噪比低,精度差,不能满足市场发展的需要。为解决该技术问题,现有技术公开了一种6000nm长波通红外滤光敏感元件(CN104597538A),该滤光敏感元件5%Cut on=6000±300nm,7500~13500nm,Tavg≥70%,400~5500nm,Tavg≤0.1%,T≤3.0%;还公开一种7600nm长波通红外滤光敏感元件(CN104597543A),该滤光敏感元件50%Cut on=7600±50nm,7700~11000nm,Tavg≥90%,8000~11000nm,T≥88%,1500~7400nm,T≤3%;均不适用于6750nm长波通红外滤光的情况,故需要对现有技术做进一步改进。
发明内容
本发明针对现有技术中的缺点,提供了一种6750nm长波通红外滤光敏感元件。
为了解决上述技术问题,本发明通过下述技术方案得以解决:
一种6750nm长波通红外滤光敏感元件,包括基板、第一镀膜层和第二镀膜层,其中基板设于第一镀膜层和第二镀膜层之间,其特征在于:
所述基板为Ge基板;
所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有322~342nm厚度的Ge层、273~293nm厚度的ZnS层、236~256nm厚度的Ge层、403~423nm厚度的ZnS层、137~157nm厚度的Ge层、474~494nm厚度的ZnS层、227~247nm厚度的Ge层、458~478nm厚度的ZnS层、237~257nm厚度的Ge层、341~361nm厚度的ZnS层、163~183nm厚度的Ge层、523~543nm厚度的ZnS层、224~244nm厚度的Ge层、564~584nm厚度的ZnS层、364~384nm厚度的Ge层、447~467nm厚度的ZnS层、309~329nm厚度的Ge层、783~803nm厚度的ZnS层、182~202nm厚度的Ge层、671~691nm厚度的ZnS层、432~452nm厚度的Ge层、237~257nm厚度的ZnS层、421~441nm厚度的Ge层、1178~1198nm厚度的ZnS层;
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