[发明专利]一种具有室温隧道磁电阻效应的氧化钛基纳米颗粒复合薄膜的制备方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910854593.0 申请日: 2019-09-10
公开(公告)号: CN110565059B 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 张亦文;陈浩禹;胡文彬;吴忠;秦真波 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/08;C23C14/50
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 曹玉平
地址: 300350 天津市津南区海*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 具有 室温 隧道 磁电 效应 氧化 纳米 颗粒 复合 薄膜 制备 方法 装置
【说明书】:

发明涉及一种具有室温隧道磁电阻效应的纳米颗粒复合薄膜的制备方法及装置。使用了旋转遮挡法提高了颗粒膜的结晶度和金属陶瓷界面清晰度,减少金属颗粒氧化。选用控共溅射方法进行薄膜制备,其中磁性金属选用溅射靶为强磁靶,溅射源为直流源;陶瓷选用溅射靶为永磁靶,溅射源为射频源。在溅射过程中通过旋转遮挡溅射的方法提高薄膜中磁性颗粒的边界清晰度,进而提高纳米颗粒薄膜室温隧道磁电阻特性。装置中自转样品台处于真空腔体上部,与真空腔体内壁相连,固定基板通过金属挡板与自转样品台相连,固定压片通过调节螺母固定溅射基片,溅射基片位于两对称金属挡板之间;陶瓷靶溅射枪位于自转样品台侧下方,金属靶溅射枪位于自转样品台正下方。

技术领域

本发明涉及一种具有室温隧道磁电阻效应的纳米颗粒复合薄膜的制备方法及装置。

背景技术

随着材料制备工艺的不断改进,磁敏感器件取得了较为广泛的关注,特别是薄膜磁电阻元器件,由于其具有极小的厚度,使电子元器件的微型化成为了可能。在高阻态纳米颗粒复合膜中,当两磁性颗粒之间势垒层很薄时,由于电子的波动性在两电极间施加一定电压,电子能够穿过这一禁止区域,从而形成电子隧穿。当两电极磁化平行,电子隧穿几率增大,形成低阻态;当两电极磁化反向平行,电子隧穿几率减小,从而形成高阻态,进而形成磁敏感的电阻元器件;早在1975年由julliere(M.Julliere,Tunneling betweenferromagnetic films.Phys.Lett.A 1975,pp.225-226.)通过制备隧道结在4.2K下观察到了14%的磁电阻效应。之后,Yang等人(S.Yan et al.,Ferromagnetism andmagnetoresistance of Co–ZnO inhomogeneous magnetic semiconductors,Appl.Phys.Lett,vol.84,pp.2376-2378,2004,doi:10.1063/1.1690881.)通过交替磁控溅射法制备了非均相Co-ZnO纳米颗粒复合膜,并且在2K下得到了35%的隧道磁电阻。但现阶段氧化物基纳米颗粒复合薄膜还存在以下问题:

1.磁电阻较好的隧道结多层膜制备方法较为复杂,不能一步成型,不利于大规模生产;

2.纳米颗粒复合薄膜在低温下有较好的磁学电阻,但室温下磁电阻较差,不利于推广应用;

3.在氧化基纳米颗粒复合薄膜中金属颗粒易发生氧化;

4.部分氮基、氟基纳米颗粒复合薄膜生物相容性较差。

发明内容

基于上述目前存在的问题,本发明通过一种遮挡磁控共溅射的方法,制备出了具有室温磁电阻的纳米颗粒复合薄膜。这种方法具有一步法制备、成本低廉、金属颗粒氧化少、可室温工作的特点,同时本发明采用氧化钛作为基体,使薄膜还具有良好的生物相容性,可应用于生物磁传感器、信息储存器件等领域。

本发明的技术方案如下:

一种具有室温隧道磁电阻效应的纳米颗粒复合薄膜的装置,在处于密闭真空腔室内,设置有固定基板1、调节螺母2、固定压片3、溅射基片4、自转样品台5、金属挡板6、陶瓷靶溅射枪7和金属靶溅射枪8;自转样品台5处于真空腔体上部,与真空腔体内壁相连,固定基板1通过金属挡板6与自转样品台5相连,固定基板1上有调节螺母2,固定压片3通过调节螺母2固定溅射基片4;金属挡板6呈对称放置,溅射基片4位于两对称金属挡板6之间;陶瓷靶溅射枪8位于自转样品台侧下方,金属靶溅射枪7位于自转样品台正下方。

本发明使用了旋转遮挡法提高了颗粒膜的结晶度和金属陶瓷界面清晰度,减少金属颗粒氧化。

所述的金属遮挡板6与自转样品台5采用高温结构胶固定。

所述的陶瓷靶溅射枪7位于自转样品台侧与中心线夹角为30°—60°。

利用本发明的装置进行具有室温隧道磁电阻效应的纳米颗粒复合薄膜的制备方法;其包括如下步骤:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学,未经天津大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910854593.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top