[发明专利]一种薄壁变径锻件超声波检测方法

权利要求书

1.一种薄壁变径锻件超声波检测方法，其特征在于，所述检测方法，包括：

锻件在被加工到半精加工后，对所述锻件的轴向采用第一直探头按第一预设扫查部位进行超声波检测，所述半精加工是指锻件被加工到圆柱状；

锻件在被精加工后，对锻件的径向采用第二直探头和斜探头进行超声波检测，所述精加工是指锻件被完全加工成型，其中，所述第二直探头按第二预设扫查部位沿所述锻件的轴向进行检测，所述斜探头按第二预设扫查部位沿所述锻件的周向进行检测，且所述斜探头沿所述锻件的周向分别按正反时针两个方向进行扫查；

将所述第一直探头、所述第二直探头以及所述斜探头的检测的超声波波形分别与对比试块的检测波形进行对比，以确定锻件体内的缺陷，所述试块包括第一试块、第二试块、第三试块、第四试块、第五试块；

对锻件的轴向采用第一直探头按第一预设扫查部位进行超声波检测时，利用试块对比法检测，包括：

将所述第一直探头与所述锻件的一个端面接触，并使所述第一直探头在该端面上按第一预设扫查部位沿第一方向进行扫查，所述第一方向是指沿该端面上的一条直径方向，所述第一预设扫查部位是指沿所述第一方向设置的多个检测点；

将所述第一直探头与锻件的另一端面接触，并在该端面上按第一预设扫查部位沿第二方向进行扫查，所述第二方向与所述第一方向平行；

将所述第一直探头的检测结果与所述第一试块对比检测；

对锻件的径向采用第二直探头进行超声波检测时，利用试块对比法检测，包括：

将所述第二直探头与锻件一端的周面进行接触，并使所述第二直探头按第二预设扫查部位沿锻件的轴向扫查至指定位置，所述第二预设扫查部位是指在锻件的周面上沿其轴向设置的多个检测点；

将所述第二直探头从锻件的一端至所述指定位置的扫查结果与所述第二试块对比检测；

将所述第二直探头从所述指定位置开始至锻件的另一端继续按所述第二预设扫查部位沿锻件的轴向扫查；

将所述第二直探头从所述指定位置至锻件另一端的扫查结果与所述第三试块对比检测；

对锻件的径向采用斜探头进行超声波检测时，利用试块对比法检测，包括：

将所述斜探头与锻件一端的周向接触，并按所述第二预设扫查部位沿锻件的周向分别按正反时针两个方向进行扫查，直至所述指定位置；

将所述斜探头从锻件的一端至所述指定位置的扫查结果与所述第四试块对比检测；

将所述斜探头从所述指定位置开始至锻件的另一端继续按所述预设扫查部位沿锻件的周向分别按正反时针两个方向进行扫查；

将所述斜探头从所述指定位置至锻件另一端的扫查结果与所述第五试块对比检测。

2.根据权利要求1所述的一种薄壁变径锻件超声波检测方法，其特征在于，所述第一试块为与所述半精加工后的所述锻件对应的圆柱状结构，且在其一端面上设置有直径为3mm的平底孔。

3.根据权利要求1所述的一种薄壁变径锻件超声波检测方法，其特征在于，

所述第二试块为三个侧面为平面一个侧面为半径R2的弧面的四棱柱，与弧面相对的侧面上沿棱的方向并列设置有多个直径为3mm的平底孔，且所述平底孔的深度值依次变化；

所述第三试块为三个侧面为平面一个侧面为半径R3的弧面的四棱柱，与弧面相对的侧面上沿棱的方向并列设置有多个直径为3mm的平底孔，且所述平底孔的深度值依次变化；所述R2和R3的取值按照±25％的偏差范围能够完全覆盖锻件的最小外径值和最大外径值之间的半径值。

4.根据权利要求1所述的一种薄壁变径锻件超声波检测方法，其特征在于，所述斜探头为35度双晶斜探头。

5.根据权利要求1所述的一种薄壁变径锻件超声波检测方法，其特征在于，所述第四试块为外径为R2的管状结构，所述第五试块为外径为R3的管状结构，所述R2和R3的取值按照±25％的偏差范围能够完全覆盖锻件的最小外径值和最大外径值之间的半径值。