[发明专利]一种红外光源的制备方法及一种红外气体传感器有效
申请号: | 201910875346.9 | 申请日: | 2019-09-17 |
公开(公告)号: | CN110687065B | 公开(公告)日: | 2021-08-27 |
发明(设计)人: | 李铁;刘延祥;王翊;周宏;王跃林 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | G01N21/3504 | 分类号: | G01N21/3504;G01N21/01;G01N21/03 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;贾允 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 红外 光源 制备 方法 气体 传感器 | ||
1.一种红外光源的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
制备加热器,所述加热器包括硅衬底(1)、支撑膜(2)和加热电阻层(3),所述支撑膜(2)和所述加热电阻层(3)依次沉积在所述硅衬底(1)上;
绝缘层(4)沉积在加热电阻层(3)上;
制备辐射波长控制结构,所述辐射波长控制结构为超材料,所述超材料包括金属反射层(5)、介质层(6)和周期性纳米金属层(7),所述金属反射层(5)、所述介质层(6)和所述周期性纳米金属层(7)依次沉积在所述绝缘层(4)上;
所述红外光源(8)为窄带红外光源,所述窄带红外光源通过调整超材料结构和尺寸能够辐射中心波长3μm-9μm的窄带红外光,所述窄带红外光的半高宽不大于220nm。
2.根据权利要求1所述的红外光源的制备方法,其特征在于,所述支撑膜(2)包括SiO2膜、Si3N4膜、或SiO2/Si3N4复合膜中的任意一项;所述加热电阻层(3)包括Pt层;
所述绝缘层(4)包括SiO2层或Si3N4层中的任意一项;
所述金属反射层(5)包括Au、Ag或Al层中的任意一项,所述介质层(6)包括SiO2层、Si3N4层、或SiO2/Si3N4复合层中的任意一项;所述周期性纳米金属层(7)包括Au、Ag或Al层中的任意一项。
3.一种红外气体传感器,其特征在于,包括根据权利要求1-2任意一项所述红外光源的制备方法所制备的红外光源(8)。
4.根据权利要求3所述的红外气体传感器,其特征在于,还包括光学气室(9)、探测器(10)和电路模块(11);
所述红外光源(8)设于所述光学气室(9)的一端,所述探测器(10)设于所述光学气室(9)的另一端;
所述红外光源(8)和所述探测器(10)分别与所述电路模块(11)电性连接。
5.根据权利要求4所述的红外气体传感器,其特征在于,所述光学气室(9)采用微纳加工工艺制作。
6.根据权利要求5所述的红外气体传感器,其特征在于,所述探测器(10)包括探测器芯片(14)和挡光片(15)。
7.根据权利要求6所述的红外气体传感器,其特征在于,所述探测器芯片(14)为热电型探测器芯片或光电型探测器芯片,所述挡光片(15)的透光范围为3μm-9μm。
8.根据权利要求7所述的红外气体传感器,其特征在于,所述红外光源(8)、所述光学气室(9)、所述探测器(10)和所述电路模块(11)为混合集成。
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