[发明专利]探针及测试装置

权利要求书

1.一种探针，其特征在于，设置于一测试座的一安装孔内，该测试座具有用以容置一芯片的一测试空间，该安装孔连通于该测试空间，该探针是呈薄片状并以导电材质制成，且包含：

一基部，位于该安装孔内且卡合于该测试座上；

一缓冲部，位于该安装孔内且由该基部一体向外呈螺旋状延伸；及

一接触部，位于该安装孔内并由该缓冲部一体延伸而与该基部互相间隔，且该接触部末端突出于该安装孔外而伸置于该测试空间内。

2.依据权利要求1所述的探针，其特征在于，该基部具有一本体区，及数个由该本体区的末端间隔向外凸伸的卡制区。

3.依据权利要求2所述的探针，其特征在于，该数个卡制区是往不同的方向延伸。

4.依据权利要求3所述的探针，其特征在于，该接触部的末端为圆弧状。

5.依据权利要求1所述的探针，其特征在于，该薄片状探针的厚度是介于0.03mm~0.7mm。

6.依据权利要求1所述的探针，其特征在于，该基部的顶端斜向延伸设置有一弹性支撑区，该接触部还具有一与该螺旋状缓冲部连接的连接区。

7.依据权利要求6所述的探针，其特征在于，定义该连接区的宽度为H1，该弹性支撑区的宽度为H2，H1与H2的宽度比值为1:0.5~1.5。

8.一种测试装置，用以提供测试信号测试一芯片，其特征在于，包含：

一测试座，包括一座体，及一形成于该座体上用以容置该芯片的测试空间，该座体具有至少一个安装孔；及

至少一如权利要求1至7中任一项所述的探针，可拆离地设置于该座体的该至少一个安装孔中，且该探针末端突出于该安装孔外而伸置于该测试空间，当该芯片设置于该测试空间时，会压抵该探针突出于该测试空间的部分，使得该接触部下沉而与该基部接触，测试信号会经由该接触部直接传递至该基部，形成上下信号导通。