[发明专利]基于金属介质金属波导的微波探测器及系统

权利要求书

1.一种基于金属介质金属波导的微波探测器，其特征在于，所述微波探测器包括：基底、第一金属、第二金属、第三金属和传感介质；

所述第一金属、所述第二金属和所述第三金属均设置在所述基底上，并且所述第一金属和所述第二金属相对设置，且所述第一金属和所述第二金属的两个边之间形成喇叭空腔结构，所述喇叭空腔结构的小口处设置有所述传感介质，且所述传感介质、所述第一金属的一条边和所述第二金属的一条边形成的平面与所述第三金属平行，且所述第一金属的一条边和所述第二金属的一条边形成的平面与所述第三金属之间形成一通道，其中，所述传感介质用于将微波转换为热量，并受热膨胀；

所述传感介质包括：第一传感介质层和第二传感介质层，所述第一传感介质层靠近所述第三金属设置，所述第二传感介质层远离所述第三金属设置；所述第一传感介质层的材料为吸热膨胀材料，其中，所述吸热膨胀材料吸热膨胀；所述第二传感介质层的材料为吸波材料。

2.根据权利要求1所述的基于金属介质金属波导的微波探测器，其特征在于，所述吸波材料为：金、银、钼和碳化硅中任意一种。

3.根据权利要求1所述的基于金属介质金属波导的微波探测器，其特征在于，所述第一传感介质层还包括：第一突出部和第二突出部，所述第一突出部和第二突出部均受热膨胀。

4.根据权利要求3所述的基于金属介质金属波导的微波探测器，其特征在于，所述第一突出部和所述第二突出部的材料均为膨胀石墨。

5.根据权利要求1所述的基于金属介质金属波导的微波探测器，其特征在于，所述微波探测器还包括金属膜，所述金属膜设置在所述传感介质靠近所述第三金属的一侧。

6.一种基于金属介质金属波导的微波探测系统，其特征在于，所述微波探测系统包括：光源、波导透射测量装置和权利要求1-5任意一项所述的微波探测器，所述光源和所述波导透射测量装置分别设置在所述微波探测器中所述通道的两侧。

7.根据权利要求6所述的基于金属介质金属波导的微波探测系统，其特征在于，所述波导透射测量装置包括：光波接收装置和计算机，所述光波接收装置和所述计算机通信连接，所述光波接收装置用于接收从所述通道中射出的光，所述计算机用于计算光的透射系数。