[发明专利]基于金属介质金属波导的微波探测器及系统

说明书

本发明涉及一种基于金属介质金属波导的微波探测器及系统，具体涉及微波测量领域，本申请通过在第一金属和第二金属之间形成的喇叭口的小口处设置传感介质，并且由于该传感介质可以将微波转换为热量，并受热膨胀，则当微波照射到该第一金属和第二金属的喇叭口大口的位置时，该微波会照射到该传感介质上，使得该介质层将接受到的微波转化为热量，并将产生的热量进行吸收，使得传感介质体积发生膨胀，并且由于传感介质、第一金属的一条边和第二金属的一条边形成的平面与第三金属平行，且第一金属的一条边和第二金属的一条边形成的平面与第三金属之间形成一通道，则当通道内有光子通过时，该传感介质体积发生变化，进而得到该微波准确的波长及频率。

技术领域

本发明涉及微波测量领域，具体而言，涉及一种基于金属介质金属波导的微波探测器及系统。

背景技术

微波是指频率为300MHz～3000GHz的电磁波，是无线电波中一个有限频带的简称，即波长在1毫米～10米之间的电磁波，而电磁波是电磁场的一种运动形态。

现有技术中，对微波的测量一般通过将电磁波的时间波形变换成适合于信号处理等的时间波形以测量时间波形的装置和方法，之后通过计算机对转换之后适合于信号处理等的时间波形以测量时间波形进行处理计算。

但是，上述现有技术中对微波波形的转换、处理并计算的过程全程依靠计算机，成本较高。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种基于金属介质金属波导的微波探测器及系统，以解决现有技术中对微波波形的转换、处理并计算的过程全程依靠计算机，成本较高的问题。

为实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种基于金属介质金属波导的微波探测器，微波探测器包括：基底、第一金属、第二金属、第三金属和传感介质；

第一金属、第二金属和第三金属均设置在基底上，并且第一金属和第二金属相对设置，且第一金属和第二金属的两个边之间形成喇叭空腔结构，喇叭空腔结构的小口处设置有传感介质，且传感介质、第一金属的一条边和第二金属的一条边形成的平面与第三金属平行，且第一金属的一条边和第二金属的一条边形成的平面与第三金属之间形成一通道，其中，传感介质用于将微波转换为热量，并受热膨胀。

可选地，该传感介质包括：第一传感介质层和第二传感介质层，第一传感介质层靠近第三金属设置，第二传感介质层远离第三金属设置。

可选地，该第一传感介质层的材料为吸热膨胀材料，其中，吸热膨胀材料吸热膨胀。

可选地，该第二传感介质层的材料为吸波材料。

可选地，该吸波材料为：金、银、钼和碳化硅中任意一种。

可选地，该第一传感介质层还包括：第一突出部和第二突出部，第一突出部和第二突出部均受热膨胀。

可选地，该第一突出部和第二突出部的材料均为膨胀石墨。

可选地，该微波探测器还包括金属膜，金属膜设置在传感介质靠近第三金属的一侧。

第二方面，本发明实施例还提供了一种基于金属介质金属波导的微波探测系统，微波探测系统包括：光源、波导透射测量装置和第一方面任意一项的微波探测器，光源和波导透射测量装置分别设置在微波探测器中通道的两侧。

可选地，该波导透射测量装置包括：光波接收装置和计算机，光波接收装置和计算机通信连接，光波接收装置用于接收从通道中射出的光，计算机用于计算光的透射系数。

本发明的有益效果是：