[发明专利]DDR修复方法、装置、终端和存储介质有效
申请号: | 201910903911.8 | 申请日: | 2019-09-24 |
公开(公告)号: | CN110675911B | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
发明(设计)人: | 郭丹丹 | 申请(专利权)人: | 上海闻泰电子科技有限公司 |
主分类号: | G11C29/32 | 分类号: | G11C29/32;G11C29/44 |
代理公司: | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人: | 安伟 |
地址: | 200001 上海市黄浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | ddr 修复 方法 装置 终端 存储 介质 | ||
1.一种DDR修复方法,其特征在于,包括:
响应于对终端进行的预设操作,对所述终端内的DDR进行扫描,其中,所述预设操作包括在研发分析阶段,控制所述终端进入预设模式,并输入DDR扫描指令的操作;或者,在老化测试阶段,通过老化测试入口向预设分区写入DDR测试标志位数据,并控制所述终端进入所述预设模式的操作;
根据扫描结果判断所述DDR是否存在位反转;
若存在,则重启终端,并在重启过程中的预加载阶段对所述DDR进行修复,其中,对所述DDR进行修复包括:获取所述DDR发生位反转的位的物理地址,并根据所述物理地址确定发生位反转的存储块;针对所述发生位反转的存储块,通过修复指令对发生位反转的bit位的值进行还原。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设操作包括:
在研发分析阶段,控制所述终端进入预设模式,并输入DDR扫描指令的操作;或者
在老化测试阶段,通过老化测试入口向预设分区写入DDR测试标志位数据,并控制所述终端进入预设模式的操作,其中,所述DDR测试标志位数据用于表示所述终端的DDR需要进行扫描测试。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在对所述终端内的DDR进行扫描之前,所述方法还包括:
根据预设分区内的存储数据,判断所述DDR是否做过修复,其中,所述存储数据至少包括标志DDR修复结果的标志数据;
若否,则执行对所述终端内的DDR进行扫描的操作;
若是,则判断修复结果,并在确定修复结果为成功时执行对所述终端内的DDR进行扫描的操作。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对终端内的DDR 进行扫描,包括:
将原始测试数据依次写入所述DDR内的不同地址空间,而且每完成一次写入数据的操作后,执行如下操作:
读取所述DDR中新写入的原始测试数据,得到第一目标测试数据;
将所述第一目标测试数据与所述原始测试数据进行比较,并根据比较结果确定所述DDR是否存在位反转。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对终端内的DDR进行扫描,还包括:
将取反后的原始测试数据依次写入所述DDR内的不同地址空间,而且每完成一次写入数据的操作后,执行如下操作:
读取所述DDR中新写入的取反后的原始测试数据,得到第二目标测试数据;
将所述目标测试数据与所述原始测试数据进行比较,并根据比较结果确定所述DDR是否存在位反转。
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在对所述DDR进行修复之后,所述方法还包括:
将表征修复结果的标志数据写入预设分区;而且如果修复成功,则对所述终端内的DDR进行二次扫描,并在二次扫描结束后清除所述DDR测试标志位数据,以退出DDR修复过程;
如果修复失败,则直接清除所述DDR测试标志位数据,以退出DDR修复过程。
7.一种DDR修复装置,其特征在于,所述装置包括:
扫描模块,用于响应于对终端进行的预设操作,对所述终端内的DDR进行扫描,其中,所述预设操作包括在研发分析阶段,控制所述终端进入预设模式,并输入DDR扫描指令的操作;或者,在老化测试阶段,通过老化测试入口向预设分区写入DDR测试标志位数据,并控制所述终端进入所述预设模式的操作;
判断模块,用于根据扫描结果判断所述DDR是否存在位反转;
修复模块,用于若存在,则重启终端,并在重启过程中的预加载阶段对所述DDR进行修复,其中,对所述DDR进行修复包括:获取所述DDR发生位反转的位的物理地址,并根据所述物理地址确定发生位反转的存储块;针对所述发生位反转的存储块,通过修复指令对发生位反转的bit位的值进行还原。
8.一种终端,其特征在于,包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序,
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-6中任一所述的DDR修复方法。
9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一所述的DDR修复方法。
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