[发明专利]DDR修复方法、装置、终端和存储介质有效

专利信息
申请号: 201910903911.8 申请日: 2019-09-24
公开(公告)号: CN110675911B 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 郭丹丹 申请(专利权)人: 上海闻泰电子科技有限公司
主分类号: G11C29/32 分类号: G11C29/32;G11C29/44
代理公司: 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 代理人: 安伟
地址: 200001 上海市黄浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: ddr 修复 方法 装置 终端 存储 介质
【说明书】:

发明实施例公开了一种DDR修复方法、装置、终端和存储介质,其中,方法包括:响应于对终端进行的预设操作,对所述终端内的DDR进行扫描;根据扫描结果判断所述DDR是否存在位反转;若存在,则重启终端,并在重启过程中的预加载阶段对所述DDR进行修复。本发明实施例通过终端自身完成对DDR的扫描与修复,避免了将发生位反转的DDR拆卸并寄给厂商进行扫描修复,提升了修复效率。

技术领域

本发明实施例涉及通信技术领域,尤其涉及一种DDR修复方法、装置、终端和存储介质。

背景技术

DDR全称是DDR SDRAM(Double Data Rate Synchronous Dynamic Random AccessMemory,双倍速率同步动态随机存储器),具有双倍速率传输数据的特性,是现有市场上的主流内存规范,被广泛应用于各大芯片组厂商的主流产品。现有的DDR在使用过程中,如果DDR出现位反转(bit flip),会导致手机不能正常开机,用户无法继续使用手机的问题。其中,位反转是指由于硬件的内在特性,其中某个bit位变化,例如从1变成0。

目前,针对DDR的位反转问题,现有的处理方法是通过使用MTK的工具flash tool进行扫描,并在定位到DDR的位反转问题后,将芯片取下寄给厂商进行修复。然而这种方式仍存在一定不足:flash tool工具扫描问题的准确性差、而且只能寄给厂商而无法自动修复DDR的位反转问题,影响工作效率,使得用户体验差。

发明内容

本发明实施例提供一种DDR修复方法、装置、终端和存储介质,以达到准确扫描DDR位反转问题,并自动修复DDR位反转问题的目的。

第一方面,本发明实施例提供了一种DDR修复方法,该方法包括:

响应于对终端进行的预设操作,对所述终端内的DDR进行扫描;

根据扫描结果判断所述DDR是否存在位反转;

若存在,则重启终端,并在重启过程中的预加载阶段对所述DDR进行修复。

可选的,在一个实施方式中,所述预设操作包括:

在研发分析阶段,控制所述终端进入预设模式,并输入DDR扫描指令的操作;或者

在老化测试阶段,通过老化测试入口向预设分区写入DDR测试标志位数据,并控制所述终端进入预设模式的操作,其中,所述DDR测试标志位数据用于表示所述终端的DDR需要进行扫描测试。

可选的,在对所述终端内的DDR进行扫描之前,所述方法还包括:

根据预设分区内的存储数据,判断所述DDR是否做过修复,其中,所述存储数据至少包括标志DDR修复结果的标志数据;

若否,则执行对所述终端内的DDR进行扫描的操作;

若是,则判断修复结果,并在确定修复结果为成功时执行对所述终端的DDR进行扫描的操作。

可选的,对终端内的DDR进行扫描,包括:

将原始测试数据依次写入所述DDR内的不同地址空间,而且每完成一次写入数据的操作后,执行如下操作:

读取所述DDR中新写入的原始测试数据,得到第一目标测试数据;

将所述第一目标测试数据与所述原始测试数据进行比较,并根据比较结果确定所述DDR是否存在位反转。

可选的,对终端内的DDR进行扫描,还包括:

将取反后的原始测试数据依次写入所述DDR内的不同地址空间,而且每完成一次写入数据的操作后,执行如下操作:

读取所述DDR中新写入的取反后的原始测试数据,得到第二目标测试数据;

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