[发明专利]基于单色X射线衍射的标定方法在审

专利信息
申请号: 201910905593.9 申请日: 2019-09-19
公开(公告)号: CN110609048A 公开(公告)日: 2019-12-24
发明(设计)人: 陈凯;朱文欣;沈昊;寇嘉伟 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20
代理公司: 11429 北京中济纬天专利代理有限公司 代理人: 覃婧婵
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 衍射信号 待测样品 多晶粉末 复杂几何 标定 标样 单色X射线衍射 样品表面 样品位置 重复调整 采集 分析
【权利要求书】:

1.一种基于单色X射线衍射的标定方法,所述方法包括以下步骤:

第一步骤(S1)中,在待测样品上放置多晶粉末;

第二步骤(S2)中,采集来自待测样品的第一衍射信号及多晶粉末的第二衍射信号;

第三步骤(S3)中,基于第二衍射信号标定第一衍射信号。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,优选的,所述待测样品为单晶或定向晶。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,第四步骤(S4)中,基于标定后的第一衍射信号生成待测样品的晶面间距,基于所述晶面间距获得应变,并计算单晶样品的残余应力。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,第四步骤(S4)中,基于多个标定后的第一衍射信号生成待测样品的应力张量。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,第一步骤(S1)中,多晶粉末形成溶液、乳浊液或悬浊液,再喷洒于待测样品表面,最后干燥。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,第一步骤(S1)中,通过气流将多晶粉末喷洒于待测样品表面。

7.根据权利要求1所述的方法,其中,第一步骤(S1)中,多晶粉末经由黏贴层黏贴于待测样品表面。

8.根据权利要求1所述的方法,其中,第二步骤(S2)中,X射线发生器在预定角度范围以预定步长偏转以改变照射放置多晶粉的待测样品的入射角,探测器采集来自待测样品的第一衍射信号及多晶粉末的第二衍射信号。

9.根据权利要求1所述的方法,其中,第三步骤(S3)中,基于第二衍射信号标定第一衍射信号衍射峰最强的位置。

10.根据权利要求1所述的方法,其中,所述待测样品可不存在,此时只收集来自多晶粉末的第二衍射信号,对衍射仪波长及衍射角进行精确标定。

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