[发明专利]半导体器件和半导体系统有效

专利信息
申请号: 201910910184.8 申请日: 2019-09-25
公开(公告)号: CN111667861B 公开(公告)日: 2023-03-21
发明(设计)人: 崔善明 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: G11C7/22 分类号: G11C7/22
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 许伟群;阮爱青
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件 半导体 系统
【权利要求书】:

1.一种半导体器件,包括:

数据处理电路,其被配置为:当所述半导体器件以串行模式进行操作时,接收包括第一组合比特位的操作信号并产生包括所述第一组合比特位的内部数据,当所述半导体器件以时钟模式进行操作时,产生包括具有交替逻辑值的连续比特位的内部数据,以及当所述半导体器件以随机模式进行操作时,产生包括随机组合比特位的内部数据,所述随机组合比特位的逻辑电平是随机产生的;以及

存储电路,其包括多个存储单元,并且被配置为将所述内部数据储存在所述多个存储单元中并从所储存的内部数据产生输出数据。

2.根据权利要求1所述的半导体器件,还包括:

操作控制电路,其被配置为根据模式选择信号和码信号来产生串行模式信号,以及

其中,当所述串行模式信号被使能时,所述数据处理电路产生包括所述第一组合比特位的所述内部数据。

3.根据权利要求1所述的半导体器件,还包括:

操作控制电路,其被配置为根据模式选择信号和码信号来产生第一时钟模式信号和第二时钟模式信号,以及

其中,当所述第一时钟模式信号和所述第二时钟模式信号被使能时,所述数据处理电路产生包括具有所述交替逻辑值的所述连续比特位的所述内部数据。

4.根据权利要求1所述的半导体器件,还包括:

操作控制电路,其被配置为根据模式选择信号和码信号来产生第一时钟模式信号和第二随机模式信号,以及

其中,当所述第一时钟模式信号和所述第二随机模式被使能时,所述数据处理电路产生所述内部数据,所述内部数据包括具有所述交替逻辑值的第一部分连续比特位并且包括具有所述随机组合比特位的第二部分连续比特位。

5.根据权利要求1所述的半导体器件,还包括:

操作控制电路,其被配置为根据模式选择信号和码信号来产生第二时钟模式信号和第一随机模式信号,以及

其中,当所述第二时钟模式信号和所述第一随机模式信号被使能时,所述数据处理电路产生所述内部数据,所述内部数据包括具有所述交替逻辑值的第二部分连续比特位并且包括具有所述随机组合比特位的第一部分连续比特位。

6.根据权利要求1所述的半导体器件,还包括:

操作控制电路,其被配置为根据模式选择信号和码信号来产生第一随机模式信号和第二随机模式信号,以及

其中,当所述第一随机模式信号和所述第二随机模式信号被使能时,所述数据处理电路产生包括所述随机组合比特位的所述内部数据,所述随机组合比特位的逻辑电平是随机产生的。

7.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,所述内部数据从自所述半导体器件外部接收的第一电压和第二电压来产生,并且由所述半导体器件在以所述时钟模式进行操作时产生。

8.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,所述串行模式是通过将从所述操作信号产生的所述内部数据储存在所述多个存储单元中来测试所述多个存储单元的操作,所述时钟模式是通过感测所述输出数据中所包括的相邻比特位的逻辑电平被实现为不同的逻辑电平来测试所述存储电路的故障的操作,并且所述随机模式是通过将包括随机组合的所述内部数据储存在所述多个存储单元中来测试所述多个存储单元的操作。

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