[发明专利]半导体结构的制造方法在审
| 申请号： | 201910912777.8 | 申请日： | 2019-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN111105991A | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 蔡俊雄;彭成毅;李京桦;幸仁·万;林佑明 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/02 | 分类号： | H01L21/02;H01L21/324 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 龚诗靖 |
| 地址： | 中国台湾新竹市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 半导体 结构 制造 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于制造半导体结构的方法，其包括：
接收包含具有第一导电区域的第一晶体管及具有第二导电区域的第二晶体管的衬底，其中所述第一晶体管及所述第二晶体管具有不同导电类型；
对所述第一导电区域执行第一激光退火；
对所述第一导电区域及所述第二导电区域执行第一非晶化；
使预硅化物层形成于所述衬底上；
对所述衬底执行热退火以形成硅化物层；及
在形成所述预硅化物层之后对所述第一导电区域及所述第二导电区域执行第二激光退火。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
