[发明专利]低功耗静态随机存取存储器的存储单元及应用有效

专利信息
申请号: 201910916322.3 申请日: 2019-09-26
公开(公告)号: CN110970071B 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 王昱棋;哈亚军 申请(专利权)人: 上海科技大学
主分类号: G11C11/418 分类号: G11C11/418;G11C11/419
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 翁若莹;柏子雵
地址: 201210 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 功耗 静态 随机存取存储器 存储 单元 应用
【权利要求书】:

1.一种低功耗静态随机存取存储器的存储单元,是直接用于二位乘二位乘法计算的SRAM储存单元,其特征在于,包括五条字线及四条位线,五条字线分别为字线一(WWL1)、字线二(WWL1B)、字线三(WWL2)、字线四(WWL2B)及字线五(RWL),四条位线分别为位线一(BL1L)、位线二(BL1R)、位线三(BL2L)及位线四(BL2R),将控制写入位线一(BL1L)、位线二(BL1R)、位线三(BL2L)及位线四(BL2R)的字线一(WWL1)、字线二(WWL1B)、字线三(WWL2)、字线四(WWL2B)与输入数据结合,让读取位线(RBL)的模拟电压值所表示的乘法只用于乘数和被乘数不同的情况,从而将读取位线(RBL)达到的电压摆幅降低,其中:

位线一(BL1L)与NMOS管Q1的源极相连,字线二(WWL1B)与NMOS管Q1的栅极相连,NMOS管Q1的漏极分别连接PMOS管Q2的漏极、PMOS管Q3的栅极、NMOS管Q4的漏极及NMOS管Q5的栅极,PMOS管Q2的源极及PMOS管Q3的源极接VCC,NMOS管Q4的源极及NMOS管Q5的源极接地;

NMOS管Q6的漏极分别连接PMOS管Q2的栅极、PMOS管Q3的漏极、NMOS管Q4的栅极、NMOS管Q5的漏极及NMOS管Q7的栅极,NMOS管Q6的栅极与字线一(WWL1)相连,NMOS管Q6的源极与位线二(BL1R)相连;

NMOS管Q7的源极接地,NMOS管Q7的漏极与NMOS管Q8的漏极相连,NMOS管Q8的栅极连接字线五(RWL),NMOS管Q8的源极连接读取位线(RBL);

位线四(BL2R)与NMOS管Q9的源极相连,字线四(WWL2B)与NMOS管Q9的栅极相连,NMOS管Q9的漏极分别连接PMOS管Q10的漏极、PMOS管Q11的栅极、NMOS管Q12的漏极及NMOS管Q13的栅极,PMOS管Q10的源极及PMOS管Q11的源极接VCC,NMOS管Q12的源极及NMOS管Q13的源极接地;

NMOS管Q14的漏极分别连接PMOS管Q10的栅极、PMOS管Q11的漏极、NMOS管Q12的栅极、NMOS管Q13的漏极及NMOS管Q15的栅极,NMOS管Q14的栅极与字线三(WWL2)相连,NMOS管Q14的源极与位线三(BL2L)相连;

NMOS管Q15的源极接地,NMOS管Q15的漏极与NMOS管Q16的漏极相连,NMOS管Q16的栅极连接字线五(RWL),NMOS管Q16的源极连接读取位线(RBL);

改变8T位单元的存储点和读取位线(RBL)相连的通道晶体管的宽度,宽度越大、放电速度越快,代表了存储的高位信息,宽度小的对应存储低位的信息,其中,由PMOS管Q2、PMOS管Q3、NMOS管Q4、NMOS管Q5、NMOS管Q6、NMOS管Q7及NMOS管Q8组成一个8T位单元,由PMOS管Q10、PMOS管Q11、NMOS管Q12的栅极、NMOS管Q13、NMOS管Q14、NMOS管Q15、NMOS管Q16组成另一个8T位单元;

NMOS管Q8的栅极与NMOS管Q16的栅极相连,并且共同连接字线五(RWL);

NMOS管Q8的源极与NMOS管Q16的源极相连,并且共同连接读取位线(RBL)。

2.一种如权利要求1所述的低功耗静态随机存取存储器的存储单元构成的阵列,其特征在于,包括N行M列的如权利要求1所述的存储单元,对于第m列存储单元中第n行存储单元而言,m=1,2,…,M,n=1,2,…,N,有:

当前存储单元的字线一(WWL1)、字线二(WWL1B)、字线三(WWL2)、字线四(WWL2B)与第n位输入相连,当前存储单元的位线一(BL1L)、位线二(BL1R)、位线三(BL2L)及位线四(BL2R)与当前第m列存储单元中的其他所有存储单元的位线一(BL1L)、位线二(BL1R)、位线三(BL2L)及位线四(BL2R)形成第m位输出,当前存储单元的读取位线(RBL)与第m列存储单元中第n+1行存储单元的字线五(RWL)相连。

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