[发明专利]具有模拟测试总线的有限引脚测试接口

权利要求书

1.一种与控制器结合用于测试目标集成电路(IC)的基于IC芯片的设备，其特征在于，所述设备包括：

事件(捕获)电路，所述事件(捕获)电路被配置和布置成控制逻辑状态，通过所述逻辑状态对响应于分别源于所述控制器的时钟信号和数据信号而检测到的给定事件选择静态测试配置；

测试操作控制电路，所述测试操作控制电路被配置和布置成通过以下测试所述目标IC：

选择性地将所述控制器的时钟引脚和I/O引脚中的每一个引脚配置成用作模拟测试总线、到所述控制器的数据输入或来自所述控制器的数据输出；以及

通过经由所述目标IC的引脚传送测试信号来执行动态操作，所述引脚：

符合所选测试配置；

与所述控制器的所述时钟信号同步；并且

符合如响应于所述所选测试配置而选择的测试协议。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述基于IC芯片的设备被配置和布置为配置和布置有两个引脚的双引脚测试接口装置，所述两个引脚用于：提供与所述控制器的可选择性地配置为所述模拟测试总线、到所述控制器的所述数据输入或来自所述控制器的所述数据输出的所述时钟引脚和所述I/O引脚的两个相应连接，并且提供与所述目标IC的引脚的多个目标IC连接。

3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述基于IC芯片的设备被配置和布置为配置和布置有两个引脚的双引脚测试接口装置，所述两个引脚用于：提供与所述控制器的可选择性地配置为所述模拟测试总线、到所述控制器的所述数据输入或来自所述控制器的所述数据输出的所述时钟引脚和所述I/O引脚的两个相应连接，并且提供与所述目标IC的TDO、TDI和TCK引脚的多个目标IC连接以用于传送扫描测试信号。

4.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述基于IC芯片的设备被配置和布置为配置和布置有两个引脚的双引脚测试接口装置，所述两个引脚用于：提供与所述控制器的可选择性地配置为所述模拟测试总线、到所述控制器的所述数据输入或来自所述控制器的所述数据输出的所述时钟引脚和所述I/O引脚的两个相应连接，并且提供所述目标IC的用于传送相对于所述控制器的所述时钟信号以分数频率(例如，四分之一)操作的测试信号的多个目标IC连接。

5.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述基于IC芯片的设备被配置和布置为配置和布置有两个引脚的双引脚测试接口装置，所述两个引脚用于提供与所述控制器的所述时钟引脚和所述I/O引脚的两个相应连接，其中在所述测试操作控制电路的操作期间，所述I/O引脚被选择性地配置成用作数字数据输入和数字数据输出中的至少一个。

6.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述基于IC芯片的设备被配置和布置为配置和布置有两个引脚的双引脚测试接口装置，所述两个引脚用于提供与所述控制器的所述时钟引脚和所述I/O引脚的两个相应连接，其中在所述事件(捕获)电路响应于所述测试操作控制电路而通过事件序列转变的操作期间，所述I/O引脚被选择性地配置成用作数字数据输入。

7.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备进一步包括事件计数器电路，所述事件计数器电路被配置和布置成响应于所述时钟信号和所述数据信号而通过对所述控制器提供的信号序列指示的事件进行计数或跟踪来提供如由所述事件(捕获)电路用于控制所述逻辑状态的信号。

8.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备进一步包括接口信号方向控制电路，所述接口信号方向控制电路被配置和布置成响应于从所述目标IC提供的控制信号而控制所述控制器的所述I/O引脚由包括所述事件(捕获)电路的电路系统用于将数据提供作为到所述控制器的数据输入还是将数据提供作为来自所述控制器的数据输出。