[发明专利]具有模拟测试总线的有限引脚测试接口

说明书

本公开的某些方面涉及通过集成电路(IC)上的两个引脚进行的测试控制和测试访问配置。根据具体例子，基于IC芯片的设备与控制器结合用于测试目标IC。所述基于IC芯片的设备包括事件(捕获)电路，所述事件(捕获)电路被配置和布置成控制逻辑状态，通过所述逻辑状态对响应于分别源于所述控制器的时钟信号和数据信号而检测到的给定事件选择静态测试配置。可以将测试操作控制电路配置和布置成通过以下测试所述目标IC：选择性地将所述控制器的时钟引脚和I/O引脚中的每一个引脚配置成用作模拟测试总线、到所述控制器的数据输入或来自所述控制器的数据输出；以及通过经由所述目标IC的引脚传送测试信号来执行动态操作。

技术领域

各个实施例的各方面涉及通过集成电路(IC)上的两个引脚进行的测试控制和测试访问配置。

背景技术

在单个测试仪系统上并行测试的硅管芯的数量持续增加。然而，提供数字内容和模拟内容的装置可用于测试的引脚有限。这种装置可能例如存在于车载网络、听力装置、传感器、近场通信(NFC)装置和接口产品等中。为了限制测试这些硅管芯的成本，在测试期间可以每个管芯地接触少量的引脚。在一些应用领域(例如，NFC、传感器)中，管芯和/或甚至封装体可能仅具有几个用于电气访问的引脚。这些引脚可以重复用于生产测试访问和/或系统内调试访问。

虽然对于通过有限数量的引脚访问片上特征以进行生产测试或系统调试存在一些解决方案，但是这些解决方案可能限于特定类型的测试(例如，仅扫描测试)并且可能使用技术特定的片上(模拟)特征将电压和/或电流和/或频率转换成测试仪刺激和/或响应值。在这些解决方案中，具体的访问协议可能使用来自测试仪系统的具体(非标准)特征。因此，可能无法在不同测试仪系统上本地运行测试，并且这种解决方案提供的测试速度通常有限，从而导致测试硅管芯的成本增加。

对于各种应用来说，这些和其它问题已经对IC上的测试控制和测试访问的效率提出了挑战。

发明内容

根据本发明的第一方面，提供一种与控制器结合用于测试目标集成电路(IC)的基于IC芯片的设备，所述设备包括：

事件(捕获)电路，所述事件(捕获)电路被配置和布置成控制逻辑状态，通过所述逻辑状态对响应于分别源于所述控制器的时钟信号和数据信号而检测到的给定事件选择静态测试配置；

测试操作控制电路，所述测试操作控制电路被配置和布置成通过以下测试所述目标IC：

选择性地将所述控制器的时钟引脚和I/O引脚中的每一个引脚配置成用作模拟测试总线、到所述控制器的数据输入或来自所述控制器的数据输出；以及

通过经由所述目标IC的引脚传送测试信号来执行动态操作，所述引脚：

符合所选测试配置；

与所述控制器的所述时钟信号同步；并且

符合如响应于所述所选测试配置而选择的测试协议。

在一个或多个实施例中，所述基于IC芯片的设备被配置和布置为配置和布置有两个引脚的双引脚测试接口装置，所述两个引脚用于：提供与所述控制器的可选择性地配置为所述模拟测试总线、到所述控制器的所述数据输入或来自所述控制器的所述数据输出的所述时钟引脚和所述I/O引脚的两个相应连接，并且提供与所述目标IC的引脚的多个目标IC连接。

在一个或多个实施例中，所述基于IC芯片的设备被配置和布置为配置和布置有两个引脚的双引脚测试接口装置，所述两个引脚用于：提供与所述控制器的可选择性地配置为所述模拟测试总线、到所述控制器的所述数据输入或来自所述控制器的所述数据输出的所述时钟引脚和所述I/O引脚的两个相应连接，并且提供与所述目标IC的TDO、TDI和TCK引脚的多个目标IC连接以用于传送扫描测试信号。