[发明专利]一种时序电路统计分析中的关键工艺波动确定方法

权利要求书

1.一种时序电路统计分析中的关键工艺波动确定方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

S01：设置电路标准单元参考工作条件以及建立工艺波动集，通过仿真提取所有标准单元在参考工作条件下的延迟分布，通过多元线性回归计算出标准单元延迟分布与每个工艺波动的关系，得到每一个工艺波动对单元延迟影响，记为参考权重w_i，ref；

S02：设置N个工作条件，j＝1，2，...，N，按照步骤S01中计算工艺波动权重的方法，通过多元线性回归得到在第j组工作条件下，工艺波动x_i对标准单元延迟分布的权重w_i，j；

S03：计算步骤S02中的每一个工作条件与步骤S01参考条件的偏差，以步骤(2)设置的工作条件偏差值作为自变量，以相应工作条件下的工艺波动权重w_i，j为因变量，进行多元回归，得到w_i，j与w_i，ref和工作条件偏差值的关系模型；

S04：通过仿真提取电路中各标准单元的工作条件偏差，通过S03构建的关系模型，得出标准单元各工艺波动对于该单元延迟的权重；

S05：计算每个单元延迟分布的标准差，并根据S04得到工艺波动对于单元延时的权重，两者相乘得到电路工艺波动相对电路延时的权重；

S06：对步骤S05计算所有电路工艺波动的权重进行排序，设定阈值，根据阈值确定出关键工艺波动。

2.根据权利要求1所述的一种时序电路统计分析中的关键工艺波动确定方法，其特征在于，步骤S01和S02中的工作条件包括电压、温度、输入转换时间和输出负载电容。

3.根据权利要求1或2所述的一种时序电路统计分析中的关键工艺波动确定方法，其特征在于，步骤S06中确定关键工艺波动的方法如下：当工艺波动的乘积结果高于阈值时，该工艺波动作为关键工艺波动。

4.根据权利要求1或2所述的一种时序电路统计分析中的关键工艺波动确定方法，其特征在于，所述工艺波动集包括以下一种或多种：阈值电压、沟道长度、沟道宽度、氧化层厚度、载流子迁移率、势垒降低系数、载流子饱和速度和阈值电压偏置。