[发明专利]一种基于高效芯片洗干仪的检测21-三体综合征染色体核型的方法

权利要求书

1.一种芯片洗干仪，其特征在于，所述芯片洗干仪包括壳体(71)、分别设置在壳体(71)内的清洗室(72)和干燥室(73)，所述清洗室(72)连通有清洗液进水管、清洗液出水管以及固接有芯片放置组件，所述干燥室(73)中设置有离心组件(75)，所述离心组件(75)转动连接有芯片放置组件，基因芯片(6)放在芯片放置组件内，所述芯片放置组件包括上端面开口的芯片架放置腔体(1)和设置在芯片架放置腔体(1)内的芯片架(2)，所述芯片架(2)与芯片架放置腔体(1)可拆卸连接；

所述芯片架(2)包括多个竖直设置的长方形的外框(21)和连接杆(22)，多个所述外框(21)沿水平方向间隔设置，相邻的两个外框(21)通过连接杆(22)连接，所述外框(21)的内侧面上开设有将基因芯片(6)插接在外框(21)内的插槽；每个所述外框(21)包括竖直杆(211)和水平杆(212)，所述水平杆(212)包括上部的第一水平杆(2121)和下部的第二水平杆(2122)，所述竖直杆(211)包括和第一水平杆(2121)一端铰接的第一竖直杆(2111)以及和第一水平杆(2121)另一端卡接的第二竖直杆(2112)，所述第一水平杆(2121)和第二竖直杆(2112)卡接的一端沿水平方向设置有第一卡接件(3)；

所述芯片架放置腔体(1)的靠近竖直杆(211)的侧壁上设置有将其和竖直杆(211)卡接的第二卡接件(4)；

所述芯片架放置腔体(1)侧壁的上端面沿竖直方向向下开设有按压杆(41)避让井，所述第二卡接件(4)包括套设在所述竖直杆(211)避让井内、上端伸出所述竖直杆(211)避让井且下端面为斜面的按压杆(41)，所述按压杆(41)的下端面较高的一端靠近芯片架放置腔体(1)的外侧；

所述竖直杆(211)避让井的下端连通有活动腔(462)，所述按压杆(41)的下端固接有第二弹簧(42)，所述第二弹簧(42)的下端设置有一侧面和按压杆(41)下端面平行倾斜的连接块(43)，所述第二弹簧(42)和所述连接块(43)倾斜的侧面固接，所述连接块(43)的下端固接有凸块(44)，所述凸块(44)和连接块(43)均位于所述活动腔(462)内，所述凸块(44)靠近芯片架放置腔体(1)内侧的一端伸出芯片架放置腔体(1)侧壁一段距离，所述凸块(44)靠近芯片架放置腔体(1)外侧的一端设置有第三弹簧(45)，所述第三弹簧(45)的另一端和活动腔(462)的侧壁固接；

与所述凸块(44)相对的竖直杆(211)侧壁上开设有与所述凸块(44)相匹配的凸块避让槽(463)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片洗干仪，其特征在于：所述第一卡接件(3)包括开设在第一水平杆(2121)上端面的靠近第二竖直杆(2112)一端的操纵杆避让槽(311)，所述操纵杆避让槽(311)自第一水平杆(2121)上端面向下开设，沿所述操纵杆避让槽(311)向下开设有卡接块活动槽(312)，所述卡接块活动槽(312)的槽口大于操纵杆避让槽(311)的槽口，所述操纵杆避让槽(311)和卡接块活动槽(312)的靠近第一竖直杆(2111)的一端均封闭，远离第一竖直杆(2111)的一端均穿通所述第一水平杆(2121)的端面；所述卡接块活动槽(312)内设置有卡接块(32)，所述卡接块(32)的上表面固接有操纵杆(33)，所述卡接块(32)和卡接块活动槽(312)的封闭端面间固接有第一弹簧(34)，所述卡接块(32)的远离第一弹簧(34)的一端伸出卡接块活动槽(312)；所述第二竖直杆(2112)上开设有卡接块避让槽(313)，所述卡接块避让槽(313)开设在第二竖直杆(2112)靠近卡接块(32)的侧面上。

3.根据权利要求1所述的一种芯片洗干仪，其特征在于：所述芯片架放置腔体(1)的侧面开设有开口。

4.根据权利要求1所述的一种芯片洗干仪，其特征在于：所述外框(21)上部的水平杆(212)上固接有提拉耳(5)。