[发明专利]一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法在审
申请号: | 201910931925.0 | 申请日: | 2019-09-29 |
公开(公告)号: | CN110823732A | 公开(公告)日: | 2020-02-21 |
发明(设计)人: | 孔令歆;曾召;王答成 | 申请(专利权)人: | 彩虹显示器件股份有限公司 |
主分类号: | G01N3/40 | 分类号: | G01N3/40;G01N3/62 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 李红霖 |
地址: | 712000 陕西省咸阳市秦都*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电子 玻璃 硬度 测试 偏差 修正 方法 | ||
【权利要求书】:
1.一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)测定标准显微维氏硬度块和样品的维氏硬度值,得到标准显微维氏硬度块的测试值和样品的测试值;
所述标准显微维氏硬度块和样品的测试条件相同;
2)利用标准显微维氏硬度块的标准值与测试值的偏差,修正样品的测试偏差,样品修正值的计算公式为:
2.根据权利要求1所述的电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法,其特征在于,步骤1)中测试条件包括负载试验力和压持加载时间。
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