[发明专利]一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法在审
申请号: | 201910931925.0 | 申请日: | 2019-09-29 |
公开(公告)号: | CN110823732A | 公开(公告)日: | 2020-02-21 |
发明(设计)人: | 孔令歆;曾召;王答成 | 申请(专利权)人: | 彩虹显示器件股份有限公司 |
主分类号: | G01N3/40 | 分类号: | G01N3/40;G01N3/62 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 李红霖 |
地址: | 712000 陕西省咸阳市秦都*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电子 玻璃 硬度 测试 偏差 修正 方法 | ||
本发明公开了一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法,涉及液晶玻璃测试领域。一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法,包括以下步骤:1)测定标准显微维氏硬度块和样品的维氏硬度值,得到标准显微维氏硬度块的测试值和样品的测试值;所述标准显微维氏硬度块和样品的测试条件相同;2)利用标准显微维氏硬度块的标准值与测试值的偏差,修正样品的测试偏差。本发明的修正方法通过引入标准显微维氏硬度块的测试,经简单的数据处理,有效的降低了电子玻璃维氏硬度测试偏差。
技术领域
本发明属于涉及液晶玻璃测试领域,尤其是一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法。
背景技术
硬度是指固体材料抵抗外界其他物体作用力而不产生残余形变的能力。玻璃的硬度主要取决于化学成分及结构。在玻璃料方开发过程中,捕捉玻璃的维氏硬度,根据硬度与化学成分的关系对料方进行调整,以便获得硬度合适的电子玻璃。维氏硬度测试过程具体如下:用维氏金刚石正方椎体以一定载荷力及载荷时间对玻璃表面进行压痕,借助显微镜系统观察选定压痕边界,并计算压痕对角线长度;通过以下公式来计算维氏硬度表征玻璃硬度的强弱。
其中,Hv—维氏硬度;F—压头对待测样品的载荷力;d—压痕对角线长度。
但是,对于同一玻璃原片、同一台维氏硬度仪,在相同的载荷时间及载荷力条件下,不同测试人员得出的测试结果往往很难一致,差异从几到十几不等,更甚者相差二三十。这主要是由于人眼视觉误差,在显微调焦部分及选定压痕边界过程中出现差异所致。因此,为了降低人为误差,出现了自动化维氏硬度计,能够自动勾选硬度压痕给出测试值。但随着测试材料的变化,压痕样态较为随机,自动捕捉的准确率并不高,有的甚至捕捉不到压痕的四角,仍需人为勾选确认压痕边界,人为误差依旧存在。
发明内容
本发明的目的在于克服由于选定压痕边界出现差异带来的维氏硬度的测试偏差的缺点,提供一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法。
为达到上述目的,本发明采用以下技术方案予以实现:
一种电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法,包括以下步骤:
1)测定标准显微维氏硬度块和样品的维氏硬度值,得到标准显微维氏硬度块的测试值和样品的测试值;
所述标准显微维氏硬度块和样品的测试条件相同;
2)利用标准显微维氏硬度块的标准值与测试值的偏差,修正样品的测试偏差,样品修正值的计算公式为:
进一步的,步骤1)中测试条件包括负载试验力和压持加载时间。
与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:
本发明的电子玻璃维氏硬度测试偏差的修正方法,测试样品的维氏硬度和标准显微维氏硬度块的维氏硬度,利用标准显微维氏硬度块的标准值与测试值的偏差,计算偏差比例,根据标准显微维氏硬度块的测试偏差,修正样品的测试值,得到修正值,该方法通过引入标准显微维氏硬度块的测试,经简单的数据处理,有效的降低了电子玻璃维氏硬度测试偏差。
附图说明
图1为本发明的流程图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。
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