[发明专利]半导体激光器寿命预估装置、方法、计算机设备及介质

权利要求书

1.一种半导体激光器寿命预估方法，其特征在于，包括：

检测获取不同加速环境下半导体激光器的样本使用寿命；

将所述样本使用寿命进行线性拟合以获得加速模型；

基于所述加速模型以及指定环境的参数获得在所述指定环境参数下半导体激光器的预期使用寿命。

2.根据权利要求1所述的半导体激光器寿命预估方法，其特征在于，所述检测获取加速环境下半导体激光器的样本使用寿命包括：将不同的参数分别作为变量，线性拟合获取针对不同变量的多个加速模型；

通过所述多个加速模型以及所述指定环境的对应的不同参数分别获得指定环境下相应的使用寿命，并获取平均值作为预期使用寿命。

3.根据权利要求1所述的半导体激光器寿命预估方法，其特征在于，所述变量包括电流应力，所述加速模型包括逆幂律加速模型，所述将所述样本使用寿命进行线性拟合以获得加速模型，包括，线性拟合所述样本使用寿命计算得到所述逆幂律加速模型中的常数值，获得预期使用寿命与电流应力的函数关系式。

4.根据权利要求3所述的半导体激光器寿命预估方法，其特征在于，取样至少3个电流应力点，计算得到各电流应力对应的常数值后取平均值，基于所述平均值构建预期使用寿命和电流应力的函数关系式。

5.根据权利要求2所述的半导体激光器寿命预估方法，其特征在于，所述变量包括工作温度，所述加速模型包括阿伦尼斯加速模型，所述将所述样本使用寿命进行线性拟合以获得加速模型，包括，线性拟合所述样本使用寿命计算得到所述阿伦尼斯加速模型中的常数值，获得预期使用寿命和工作温度的函数关系。

6.根据权利要求5所述的半导体激光器寿命预估方法，其特征在于，取样至少3个工作温度点，计算得到各工作温度对应的常数值后取平均值，基于所述平均值构建预期使用寿命和电流应力的函数关系式。

7.一种半导体激光器寿命预估装置，其特征在于，包括：

LD失效检测装置，用于检测半导体激光器是否失效并输出寿命数据；

温度调控装置，用于调控所述半导体激光器的工作温度并输出温度信号；

驱动电源，与所述半导体激光器电连接，用于为所述半导体激光器供电；

电流检测装置，与所述半导体激光器电连接，用于实时检测所述半导体激光器的工作电流并输出电流检测信号；

信息处理装置，用于接收所述寿命数据、所述温度信号和所述电流检测信号，并实现权利要求1至6中任一项所述方法的步骤。

8.根据权利要求7所述的半导体激光器寿命预估装置，其特征在于，所述温度调控装置包括高温箱，所述半导体激光器位于所述高温箱内，所述高温箱密封设置。

9.根据权利要求8所述的半导体激光器寿命预估装置，其特征在于，所述驱动电源、所述LD失效检测装置、所述电流检测装置和所述信息处理装置均位于所述高温箱外，所述半导体激光器固定连接有导光件，所述导光件将所述半导体激光器的发射光导向所述LD失效检测装置的检测位置。

10.根据权利要求7所述的半导体激光器寿命预估装置，其特征在于，所述温度调控装置包括温度检测仪和制冷装置，所述温度检测仪接触所述半导体激光器外壳；

所述温度检测仪与所述信息处理装置电连接并将检测到的温度信号输入所述信息处理装置；

所述信息处理装置与所述制冷装置电连接，并根据接收到的温度信号向所述制冷装置输出控制信号，所述制冷装置接收控制信号并对所述半导体激光器制冷控温。

11.根据权利要求10所述的半导体激光器寿命预估装置，其特征在于，所述制冷装置为冷水机或冷油机。