[发明专利]半导体激光器寿命预估装置、方法、计算机设备及介质

说明书

本发明涉及半导体激光器领域，尤其涉及一种半导体激光器寿命预估方法，包括：检测获取不同加速环境下半导体激光器的样本使用寿命；将样本使用寿命进行线性拟合以获得加速模型；基于加速模型以及指定环境的参数获得在指定环境参数下半导体激光器的预期使用寿命。上述半导体激光器的寿命预估方法中，半导体激光器在加速环境下的样本使用寿命大大缩短，因此能够在较短的时间内测试出半导体激光器在加速环境下的样本使用寿命，再利用获得的加速模型，将正常工作环境的参数代入加速模型，就能够获得半导体激光器在正常工作环境下的预期使用寿命，从而实现在较短时间内准确预估出半导体激光器在正常工作环境下的预期使用寿命。

技术领域

本发明涉及半导体激光器领域，特别是涉及一种半导体激光器寿命预估装置、方法、计算机设备及介质。

背景技术

半导体激光器是以一定的半导体材料做工作物质而产生激光的器件。其工作原理是通过一定的激励方式，在半导体物质的能带之间，或者半导体物质的能带与杂质能级之间，实现非平衡载流子的粒子数反转，当处于粒子数反转状态的大量电子与空穴复合时，便产生受激发射作用。

目前半导体激光器的寿命预估是比较复杂的工程，有的半导体激光器能够工作长达十万小时，半导体激光器在正常的工作环境下进行寿命试验，时间耗费惊人。

发明内容

基于此，有必要提供一种半导体激光器寿命预估装置及方法，达到能够在较短的时间内准确预估出半导体激光器在正常工作环境下的寿命。

一种半导体激光器寿命预估方法，包括：

检测获取不同加速环境下半导体激光器的样本使用寿命；

将所述样本使用寿命进行线性拟合以获得加速模型；

基于所述加速模型以及指定环境的参数获得在所述指定环境参数下半导体激光器的预期使用寿命。

上述半导体激光器的寿命预估方法中，半导体激光器在加速环境下的样本使用寿命大大缩短，因此能够在较短的时间内测试出半导体激光器在加速环境下的样本使用寿命，再利用获得的加速模型，将正常工作环境的参数代入加速模型，就能够获得半导体激光器在正常工作环境下的预期使用寿命，从而实现在较短时间内准确预估出半导体激光器在正常工作环境下的预期使用寿命。

在其中一个实施例中，

所述检测获取加速环境下半导体激光器的样本使用寿命包括：将不同的参数分别作为变量，线性拟合获取针对不同变量的多个加速模型；

通过所述多个加速模型以及所述指定环境的对应的不同参数分别获得指定环境下相应的使用寿命，并获取平均值作为预期使用寿命。

通过上述技术方案，能够从不同的角度对半导体激光器的预期使用寿命进行预估，最后将获得的使用寿命取平均值能够有效的减小误差

在其中一个实施例中，所述变量包括电流应力，所述加速模型包括逆幂律加速模型，所述将所述样本使用寿命进行线性拟合以获得加速模型，包括，线性拟合所述样本使用寿命计算得到所述逆幂律加速模型中的常数值，获得预期使用寿命与电流应力的函数关系式。

在其中一个实施例中，取样至少3个电流应力点，计算得到各电流应力对应的常数值后取平均值，基于所述平均值构建预期使用寿命和电流应力的函数关系式。

通过上述技术方案能够减小误差，提高半导体激光器使用寿命预估的准确度。

在其中一个实施例中，所述变量包括工作温度，所述加速模型包括阿伦尼斯加速模型，所述将所述样本使用寿命进行线性拟合以获得加速模型，包括，线性拟合所述样本使用寿命计算得到所述阿伦尼斯加速模型中的常数值，获得预期使用寿命和工作温度的函数关系。