[发明专利]漏电补偿动态寄存器、数据运算单元、芯片、算力板及计算设备在审

专利信息
申请号: 201910947683.4 申请日: 2019-09-30
公开(公告)号: CN110706731A 公开(公告)日: 2020-01-17
发明(设计)人: 张建;张楠赓;鲍进华;刘杰尧;吴敬杰;马晟厚 申请(专利权)人: 杭州嘉楠耘智信息科技有限公司
主分类号: G11C19/28 分类号: G11C19/28;G06F15/78
代理公司: 11006 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 张燕华;祁建国
地址: 310000 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 数据锁存单元 漏电 模拟开关单元 输出端 输出驱动单元 动态寄存器 补偿单元 输入端 时钟信号控制 数据运算单元 电性连接 计算设备 锁存数据 依次串接 有效补偿 漏电流 信号端 正确率 反相 力板 芯片 输出
【权利要求书】:

1.一种漏电补偿动态寄存器,其特征在于,包括:

一输入端,用于输入一数据;

一输出端,用于输出所述数据;

一时钟信号端,用于提供时钟信号;

一模拟开关单元,在所述时钟信号控制下传输所述数据;

一数据锁存单元,在所述时钟信号控制下锁存所述数据;

一输出驱动单元,用于反相并输出从所述数据锁存单元接收到的所述数据;

所述模拟开关单元、所述数据锁存单元、所述输出驱动单元依次串接在所述输入端和所述输出端之间,所述模拟开关单元和所述数据锁存单元之间具有一节点;

其中,还包括一漏电补偿单元,所述漏电补偿单元电性连接在所述节点与所述输出端之间。

2.如权利要求1所述的漏电补偿动态寄存器,其特征在于:所述漏电补偿单元具有一第一端、一第二端以及一控制端,所述第一端电性连接至所述输出端,所述第二端电性连接至所述节点。

3.如权利要求2所述的漏电补偿动态寄存器,其特征在于:所述漏电补偿单元包括一PMOS晶体管及一NMOS晶体管,所述PMOS晶体管及所述NMOS晶体管串联连接在所述输出端与所述节点之间。

4.如权利要求3所述的漏电补偿动态寄存器,其特征在于:所述PMOS晶体管具有一源极端、一漏极端及一栅极端,所述NMOS晶体管具有一源极端、一漏极端及一栅极端,所述PMOS晶体管的所述源极端电性连接至所述输出端,所述漏极端电性连接至所述NMOS晶体管的所述漏极端,所述NMOS晶体管的所述源极端电性连接至所述节点。

5.如权利要求4所述的漏电补偿动态寄存器,其特征在于:所述PMOS晶体管与所述NMOS晶体管的栅极端并联并电性连接至一电源。

6.如权利要求4所述的漏电补偿动态寄存器,其特征在于:所述PMOS晶体管与所述NMOS晶体管的栅极端并联并电性连接至所述节点。

7.如权利要求3所述的漏电补偿动态寄存器,其特征在于:所述PMOS晶体管具有一源极端、一漏极端及一栅极端,所述NMOS晶体管具有一源极端、一漏极端及一栅极端,所述NMOS晶体管的所述源极端电性连接至所述输出端,所述漏极端电性连接至所述PMOS晶体管的所述漏极端,所述PMOS晶体管的所述源极端电性连接至所述节点。

8.如权利要求7所述的漏电补偿动态寄存器,其特征在于:所述PMOS晶体管与所述NMOS晶体管的栅极端并联并电性连接至一地。

9.如权利要求7所述的漏电补偿动态寄存器,其特征在于:所述PMOS晶体管与所述NMOS晶体管的栅极端并联并电性连接至所述节点。

10.如权利要求2所述的漏电补偿动态寄存器,其特征在于:所述漏电补偿单元包括一PMOS晶体管,所述PMOS晶体管具有一源极端、一漏极端及一栅极端,所述PMOS晶体管的所述源极端电性连接至所述输出端,所述漏极端电性连接至所述节点,所述栅极端电性连接至一电源。

11.如权利要求2所述的漏电补偿动态寄存器,其特征在于:所述漏电补偿单元包括一NMOS晶体管,所述NMOS晶体管具有一源极端、一漏极端及一栅极端,所述NMOS晶体管的所述漏极端电性连接至所述输出端,所述源极端电性连接至所述节点,所述栅极端电性连接至一地。

12.如权利要求1所述的漏电补偿动态寄存器,其特征在于:所述时钟信号包括一第一时钟信号及一第二时钟信号,所述第一时钟信号与所述第二时钟信号反相。

13.如权利要求1所述的漏电补偿动态寄存器,其特征在于:所述模拟开关单元为传输门。

14.如权利要求1所述的漏电补偿动态寄存器,其特征在于:所述数据锁存单元为三态反相器。

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