[发明专利]芯片的扫频装置、方法和电子设备

权利要求书

1.一种芯片的扫频装置，其特征在于，包括：

N组芯片，设置于电路板M个电压域上，其中，所述N组芯片中的每组芯片包括至少一个芯片，M＞1、N≥1，且M、N为正整数；

控制器，连接于所述N组芯片，用于对所述N组芯片进行扫频测试以确定所述N组芯片中每个芯片的最高频率，根据所述N组芯片中每个芯片的最高频率，确定所述N组芯片中每个芯片的工作频率，其中，所述M个电压域中的至少两个电压域的芯片的工作频率之和相同。

2.根据权利要求1所述的扫频装置，其特征在于，所述控制器用于：

根据所述N组芯片中每个芯片的最高频率，对所述M个电压域中每个电压域上的多个芯片的最高频率进行排序；

将目标芯片的最高频率确定为相同序号的多个芯片的工作频率，其中，所述相同序号的多个芯片的最高频率中，所述目标芯片的最高频率最小。

3.根据权利要求2所述的扫频装置，其特征在于，所述M个电压域中的每个电压域上设置有N个芯片，所述控制器用于：

对所述M个电压域中的每个电压域上的N个芯片的最高频率进行排序；

将所述目标芯片的最高频率确定为相同序号的M个芯片的工作频率，其中，所述相同序号的M个芯片的最高频率中，所述目标芯片的最高频率最小。

4.根据权利要求3所述的扫频装置，其特征在于，所述控制器用于：

对所述M个电压域中的每个电压域的N个芯片的最高频率按照大小排序为1至N，其中，最高频率大小相同的芯片按照位置顺序进行排序。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的扫频装置，其特征在于，所述N组芯片中的每组芯片包括M个芯片，所述M个芯片分别位于所述M个电压域。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的扫频装置，其特征在于，所述N组芯片在所述电路板上呈N列排列，所述M个电压域上的芯片在所述电路板上呈M行排列。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的扫频装置，其特征在于，所述控制器用于：

依次对所述N组芯片进行扫频测试，并确定所述N组芯片中每个芯片的最高频率。

8.根据权利要求7所述的扫频装置，其特征在于，所述M个电压域中位于同一个电压域的芯片不同时进行扫频测试。

9.根据权利要求7或8所述的扫频装置，其特征在于，所述控制器用于：

从所述N组芯片中的第a组芯片开始，按照位置顺序依次对所述N组芯片进行扫频测试，其中，1≤a≤N，且a为正整数。

10.根据权利要求7-9中任一项所述的扫频装置，其特征在于，所述控制器用于：

对于所述N组芯片中的第k组芯片，其中，1≤k≤N，且k为正整数，将所述第k组芯片的测试频率设置为X个测试频率中的第i个测试频率，并对所述第k组芯片发送测试数据，其中，所述X个测试频率依次递增，X为大于1的正整数，2≤i≤X，且i为正整数；

获取并判断所述第k组芯片中W个芯片的随机数的数量是否在第一阈值范围内，以确定所述第k组芯片中W个芯片的最高频率，其中，W为正整数，所述W个芯片为所述第k组芯片中未确定最高频率的芯片，所述随机数为所述W个芯片接收测试数据后生成的数据。

11.根据权利要求10所述的扫频装置，其特征在于，所述控制器用于：

判断所述W个芯片的随机数的数量均在第一阈值范围内，且i+1≤X时，采用所述X个测试频率中的第i+1个测试频率对所述第k组芯片进行扫频测试；

判断所述W个芯片的随机数的数量均在第一阈值范围内，且i+1＞X时，确定所述W个芯片的最高频率为所述X个测试频率中的第X个测试频率；

判断所述W个芯片中第一芯片的随机数的数量在第一阈值范围外时，确定所述第一芯片的最高频率为所述X个测试频率中的第i-1个测试频率，采用所述X个测试频率中的第i+1个测试频率对所述第k组芯片进行扫频测试。