[发明专利]芯片flash数据的在线校验方法及计算机存储介质有效

专利信息
申请号: 201910960976.6 申请日: 2019-10-11
公开(公告)号: CN110704236B 公开(公告)日: 2020-09-01
发明(设计)人: 张威龙;李鹏;钟书鹏;邓廷 申请(专利权)人: 南京元晨微电子科技有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10;G11C29/42
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 刘文闻
地址: 210000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 芯片 flash 数据 在线 校验 方法 计算机 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种芯片flash上的数据的在线校验方法,芯片包括了CRC硬件模块和flash,其特征在于:在flash上存储程序数据以及上述数据产生的一个唯一校验和,所述芯片运行应用程序,当芯片进入空闲时间片后,包括以下步骤:

(1)将应用程序所使用的配置字保存到内存中,所述配置字为应用程序设定的CRC硬件模块寄存器的配置字;

(2)当flash校验程序第一次运行时,设置flash校验程序需要使用的配置字和初始值;当flash校验程序不是第一次运行时,从内存中读取flash校验程序所使用的配置字、上一次校验结果和上一次校验程序结束时的flash访问地址,并将上一次的校验结果作为本次校验的初始值,将上一次校验程序结束时的flash访问地址作为本次校验的起始地址;所述需要使用的配置字写入CRC硬件模块寄存器;

(3)将flash数据搬运至CRC硬件模块进行校验,直至空闲时间片用尽时暂停;

(4)将本次校验结果和本次校验程序的结束地址保存在内存中;

(5)将步骤(1)保存的配置字恢复到CRC硬件模块寄存器中,恢复执行应用程序。

2.根据权利要求1所述的芯片flash上的数据的在线校验方法,其特征在于:所述配置字包括CRC的位宽、CRC的系数、CRC的初始值和是否需要数据翻转。

3.根据权利要求1所述的芯片flash上的数据的在线校验方法,其特征在于:所述flash上的校验和位宽为8bit、16bit和32bit中的一种。

4.一种芯片flash上的数据的在线校验方法,芯片包括了CRC硬件模块、flash和DMA模块,其特征在于:在flash上存储程序数据以及上述数据产生的一个唯一校验和,所述芯片运行应用程序;

当应用程序没有使用CRC硬件模块时,DMA模块将flash数据搬运至CRC硬件模块进行校验;

当应用程序需要使用CRC硬件模块时,包括以下步骤:

(1)暂停DMA模块运行;

(2)将flash校验程序所使用的配置字、本次校验结果和本次校验程序的结束地址保存到内存中,所述配置字为所述flash校验程序所使用的CRC硬件模块寄存器的配置字;

(3)将应用程序需要使用的配置字写入CRC硬件模块寄存器;

(4)将应用程序需要校验的数据搬运至CRC硬件模块进行校验,校验完成后返回校验结果;

(5)将步骤(2)中所述的配置字恢复到CRC硬件模块寄存器中;

(6)重新配置DMA模块,读取步骤(2)中的校验结果和结束地址;

(7)重启DMA模块,将步骤(2)中的校验结果作为本次重启的校验程序的初始值,从所述结束地址开始搬运数据至CRC硬件模块寄存器进行校验。

5.根据权利要求4所述的芯片flash上的数据的在线校验方法,其特征在于:所述配置字包括CRC的位宽、CRC的系数、CRC的初始值和是否需要数据翻转。

6.根据权利要求4所述的芯片flash上的数据的在线校验方法,其特征在于:所述flash上的校验和位宽为8bit、16bit和32bit中的一种。

7.一种计算机存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于:所述计算机程序在被计算机处理器执行时实现权利要求1至6任一项所述的方法。

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