[发明专利]芯片flash数据的在线校验方法及计算机存储介质

说明书

本发明公开了一种芯片flash数据的在线校验方法及计算机存储介质，在校验方法中整个flash使用唯一的一个校验和进行校验，在普通的不具有DMA功能的芯片中，flash的校验是在软件空闲时间片中进行，在具有DMA功能芯片中，flash的校验在软件不需要使用硬件CRC模块时进行，在软件运行的同时由DMA搬运flash数据至CRC模块进行校验，在校验中断时保存校验的配置以及中间结果和中断的位置。本发明仅需要在flash中额外占用一个校验和的位置，极大节省了校验字对flash存储空间的占用，并且能够在运行中对CRC配置和中间结果进行了保存恢复，允许flash数据校验被打断，可以灵活地将flash数据校验插入到软件空闲的时间片之中，在使用DMA模块的芯片时也不影响应用软件对于CRC硬件模块的使用。

技术领域

本发明涉及一种在线校验方法及计算机存储介质，特别是一种芯片flash数据的在线校验方法及计算机存储介质。

背景技术

非挥发性存储器通常用于存储芯片的运行程序、出厂校正参数等初始化数据，非易失数据的保存和正确读取是芯片正常执行的关键。而部分非挥发性存储器由于存放条件不良，运行时收到高温高压干扰等因素，可能会出现存储数据改变等错误故障，在芯片运行过程中，及时发现此类故障并采取预先采取停机上报等操作显得尤为必要和关键。目前的校验方法通常每1byte或4byte就需要存储一个校验位或校验字，占据flash中较大空间，另一方面一次性完成整个flash的校验计算过程，耗时较长，会影响正常软件的运行性能。

发明内容

发明目的：本发明要解决的技术问题是提供一种芯片flash数据的在线校验方法及计算机存储介质，解决了目前校验方法校验和占用flash空间较大并且校验计算过程干扰软件正常运行的不足，整个flash校验使用唯一一个固定大小的校验和，节省了存储资源，分块对flash进行校验，不打扰正常软件的运行。

技术方案：本发明所述的芯片flash数据的在线校验方法，芯片包括了CRC硬件模块和flash，在flash上存储程序数据以及上述数据产生的一个唯一校验和，所述芯片运行应用程序，当芯片进入空闲时间片后，包括以下步骤：

(1)将应用程序所使用的配置字保存到内存中，所述配置字为应用程序设定的CRC硬件模块寄存器的配置字；

(2)当flash校验程序第一次运行时，设置flash校验程序需要使用的配置字和初始值；当flash校验程序不是第一次运行时，从内存中读取flash校验程序所使用的配置字、上一次校验结果和上一次校验程序结束时的flash访问地址，并将上一次的校验结果作为本次校验的初始值，将上一次校验程序结束时的flash访问地址作为本次校验的起始地址；

(3)将flash数据搬运至CRC硬件模块进行校验，直至空闲时间片用尽时暂停；

(4)将本次校验结果和本次校验程序的结束地址保存在内存中；

(5)将步骤(1)保存的配置字恢复到CRC硬件模块寄存器中，恢复执行应用程序。

进一步的，所述配置字包括CRC的位宽、CRC的系数、CRC的初始值和是否需要数据翻转。

进一步的，所述flash上的校验和位宽为8bit、16bit和32bit中的一种。

基于同样的发明构思，本发明所述的另一种芯片flash数据的在线校验方法，芯片包括了CRC硬件模块、flash和DMA模块，在flash上存储程序数据以及上述数据产生的一个唯一校验和，所述芯片运行应用程序；

当应用程序没有使用CRC硬件模块时，DMA模块将flash数据搬运至CRC硬件模块进行校验；

当应用程序需要使用CRC硬件模块时，包括以下步骤：

(1)暂停DMA模块运行；