[发明专利]一种掉电检测电路、方法及MCU芯片在审
申请号: | 201910965290.6 | 申请日: | 2019-10-11 |
公开(公告)号: | CN112649724A | 公开(公告)日: | 2021-04-13 |
发明(设计)人: | 翟正涛;汤江逊;聂玉庆 | 申请(专利权)人: | 珠海格力电器股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/317 | 分类号: | G01R31/317 |
代理公司: | 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 | 代理人: | 韩月玲 |
地址: | 519070*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 掉电 检测 电路 方法 mcu 芯片 | ||
1.一种掉电检测电路,其特征在于,所述掉电检测电路包括信息采集单元和比较器,其中:
所述比较器的第一输入引脚与目标芯片的外部电源的输出引脚连接,所述比较器的第二输入引脚与所述目标芯片的备用电池的输出引脚连接,用于对外部电源和备用电池的电压进行比较;
所述信息采集单元分别与所述比较器的输出引脚和所述目标芯片的MCU连接,用于采集所述比较器的比较结果,根据所述比较结果确定所述外部电源的供电状态,并根据所述供电状态向所述MCU输出工作模式的切换信号。
2.根据权利要求1所述的掉电检测电路,其特征在于,所述MCU还用于输出低频时钟信号;
所述信息采集单元,还用于根据所述低频时钟信号的时钟周期采集所述比较器的比较结果。
3.根据权利要求1所述的掉电检测电路,其特征在于,所述掉电检测电路还包括供电控制器,所述供电控制器分别与所述外部电源、所述信息采集单元和所述比较器连接;
所述信息采集单元,还用于通过所述供电控制器控制所述比较器上电或断电。
4.根据权利要求3所述的掉电检测电路,其特征在于,所述供电控制器为金属氧化物半导体MOS管。
5.根据权利要求1所述的掉电检测电路,其特征在于,所述比较器的正输入引脚与所述外部电源连接,所述比较器的负输入引脚与所述备用电池连接。
6.一种掉电检测方法,其特征在于,应用于如权利要求1至5任一项所述的掉电检测电路,所述方法包括:
比较器对外部电源和备用电池的电压进行比较,得到比较结果;
信息采集单元采集所述比较器的比较结果,根据所述比较结果确定所述外部电源的供电状态,并根据所述供电状态向MCU输出工作模式的切换信号。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述信息采集单元采集所述比较器的比较结果,根据所述比较结果确定所述外部电源的供电状态,并根据所述供电状态向所述MCU输出工作模式的切换信号,包括:
如果所述比较结果为低电平,则所述信息采集单元确定所述外部电源的供电状态为掉电状态,输出第一切换信号,所述第一切换信号用于控制所述MCU切换至低功耗模式;
如果所述比较结果为高电平,则所述信息采集单元确定所述外部电源的供电状态为正常供电状态,输出第二切换信号,所述第二切换信号用于控制所述MCU切换至正常工作模式。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述比较器对外部电源和备用电池的电压进行比较之前,还包括:
当所述信息采集单元接收MCU发送的低频时钟信号时,开始对所述低频时钟信号进行计数;
所述信息采集单元在计数值达到预设阈值后的第一时钟周期内,控制供电控制器对所述比较器进行供电。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述信息采集单元采集所述比较器的比较结果,包括:
所述信息采集单元在计数值达到预设阈值后的第二时钟周期内,采集所述比较器的比较结果。
10.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述信息采集单元采集所述比较器的比较结果之后,还包括:
所述信息采集单元控制供电控制器对所述比较器断电。
11.一种MCU芯片,其特征在于,所述MCU芯片包括如权利要求1至5任一项所述的掉电检测电路。
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