[发明专利]一种掉电检测电路、方法及MCU芯片

说明书

本申请提供了一种掉电检测电路、方法及MCU芯片，属于终端技术领域。所述掉电检测电路包括信息采集单元和比较器，所述比较器的第一输入引脚与目标芯片的外部电源的输出引脚连接，所述比较器的第二输入引脚与所述目标芯片的备用电池的输出引脚连接，用于对外部电源和备用电池的电压进行比较；所述信息采集单元分别与所述比较器的输出引脚和所述目标芯片的MCU连接，用于采集所述比较器的比较结果，根据所述比较结果确定所述外部电源的供电状态，并根据所述供电状态向所述MCU输出工作模式的切换信号。采用本申请可以降低MCU功耗。

技术领域

本申请涉及终端技术领域，尤其涉及一种掉电检测电路、方法及MCU芯片。

背景技术

随着电子技术的发展，越来越多的设备开始追求芯片的低功耗设计，以节约设备的耗能。

相关技术中，电子设备通常可以采用两种方式给MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)芯片供电，一种是通过稳定的外部电源供电，一种是通过设备的电池供电。相应的，MCU芯片可以支持正常模式和低功耗模式，在有稳定的电源给MCU芯片供电，MCU芯片以正常模式工作，而在电池供电的情况下以低功耗模型工作。为了实现工作模式的切换，MCU芯片中的MCU需要持续的检测外部电源供电是否正常供电，并在检测到外部电源掉电时切换为低功耗模式。

然而，MCU持续检测外部电源是否正常供电也是会消耗不小的功耗的。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种掉电检测电路、方法及MCU芯片，以解决MCU持续检测外部电源是否正常供电，造成MCU功耗较高的问题。具体技术方案如下：

第一方面，提供了一种掉电检测电路，所述掉电检测电路包括信息采集单元和比较器，其中：

所述比较器的第一输入引脚与目标芯片的外部电源的输出引脚连接，所述比较器的第二输入引脚与所述目标芯片的备用电池的输出引脚连接，用于对外部电源和备用电池的电压进行比较；

所述信息采集单元分别与所述比较器的输出引脚和所述目标芯片的MCU连接，用于采集所述比较器的比较结果，根据所述比较结果确定所述外部电源的供电状态，并根据所述供电状态向所述MCU输出工作模式的切换信号。

可选的，所述MCU还用于输出低频时钟信号；

所述信息采集单元，还用于根据所述低频时钟信号的时钟周期采集所述比较器的比较结果。

可选的，所述掉电检测电路还包括供电控制器，所述供电控制器分别与所述外部电源、所述信息采集单元和所述比较器连接；

所述信息采集单元，还用于通过所述供电控制器控制所述比较器上电或断电。

可选的，所述供电控制器为金属氧化物半导体MOS管。

可选的，所述比较器的正输入引脚与所述外部电源连接，所述比较器的负输入引脚与所述备用电池连接。

第二方面，提供了一种掉电检测方法，应用于如第一方面任一项所述的掉电检测电路，所述方法包括：

比较器对外部电源和备用电池的电压进行比较，得到比较结果；

信息采集单元采集所述比较器的比较结果，根据所述比较结果确定所述外部电源的供电状态，并根据所述供电状态向MCU输出工作模式的切换信号。

可选的，所述信息采集单元采集所述比较器的比较结果，根据所述比较结果确定所述外部电源的供电状态，并根据所述供电状态向所述MCU输出工作模式的切换信号，包括：

如果所述比较结果为低电平，则所述信息采集单元确定所述外部电源的供电状态为掉电状态，输出第一切换信号，所述第一切换信号用于控制所述MCU切换至低功耗模式；