[发明专利]一次性可编程(OTP)存储器设备和测试OTP存储器设备的方法

说明书

提供了一次性可编程(OTP)存储器设备及测试OTP存储器设备的方法，OTP存储器设备包括：包括OTP单元阵列和虚设单元块的单元阵列电路，OTP单元阵列包括耦合到位线、读取字线和电压字线的OTP存储单元，并且所述虚设单元块耦合到读取字线和电压字线；行解码器，通过读取字线和电压字线耦合到虚设单元块和OTP单元阵列；通过位线耦合到OTP单元阵列的列解码器；耦合到列解码器的写入感测电路；以及基于命令和地址控制单元阵列电路、行解码器和写入感测电路的控制电路，单元阵列电路还包括隔离电路，隔离电路响应于测试模式下的控制代码，切断从行解码器传输到OTP单元阵列的第一和第二电压。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2019年1月3日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2019-0000608的优先权，并在此通过引用完整地并入其公开内容。

技术领域

本发明构思的示例性实施例涉及一次性可编程(OTP)存储器设备和测试OTP存储器设备的方法。

背景技术

在一次性可编程(OTP)存储器设备中，可以使用多个OTP单元来存储数据。例如，每一个OTP单元可以具有未编程状态和编程状态。OTP单元中编程的数据可以在没有电力的情况下保留。在这种情况下，OTP单元可以像非易失性存储器那样工作。已经第一次编程的OTP单元不能被第二次编程。换言之，已编程的OTP单元在状态上是不可逆的。在一些示例中，OTP单元可以包括熔丝或反熔丝，并且可以被电编程。OTP存储器用于电子领域，在各种应用中永久存储信息。

与可以多次再编程的存储器的测试相比，测试OTP存储器的效率低。这是因为OTP存储器的单元不能被重新编程。

发明内容

根据本发明构思的示例性实施例，一种一次性可编程(OTP)存储器设备包括：单元阵列电路，包括OTP单元阵列和虚设单元块，其中OTP单元阵列包括耦合到多条位线、多条读取字线和多条电压字线的多个OTP存储单元，并且虚设单元块耦合到多条读取字线和多条电压字线；行解码器，通过多条读取字线和多条电压字线耦合到虚设单元块和OTP单元阵列；列解码器，通过多条位线耦合到OTP单元阵列；写入感测电路，耦合到列解码器；以及控制电路，被配置为基于命令和地址来控制单元阵列电路、行解码器和写入感测电路，其中所述单元阵列电路还包括隔离电路，所述隔离电路响应于第一测试模式下的控制代码，切断从行解码器传输到OTP单元阵列的第一电压和第二电压。

根据本发明构思的示例性实施例，提供了一种测试OTP存储器设备的方法，OTP存储器设备包括OTP单元阵列、虚设单元块和隔离电路，所述OTP单元阵列包括耦合到多条位线、多条读取字线和多条电压字线的多个OTP存储单元，所述虚设单元块耦合到多条读取字线和多条电压字线，以及所述隔离电路耦合到OTP单元阵列和虚设单元块。在该方法中，在第一测试模式下由隔离电路切断虚设单元块和OTP单元阵列的连接，从读取字线和电压字线中选择读取字线和电压字线对，响应于第一测试启用信号由耦合到虚设单元块的测试位线信号发生器生成第一测试位线信号和第二测试位线信号，并且基于通过位线输出的测试结果图案与预期图案的比较，确定行解码器和列解码器是否有缺陷。行解码器耦合到多条读取字线和多条电压字线，并且列解码器耦合到多条位线。

根据本发明构思的示例性实施例，提供了一种测试OTP存储器设备的方法，OTP存储器设备包括：OTP单元阵列，所述OTP单元阵列包括耦合到多条位线、多条读取字线和多条电压字线的多个OTP存储单元；耦合到多条读取字线和多条电压字线的虚设单元块；以及耦合到OTP单元阵列和虚设单元块的隔离电路。在该方法中，在第一测试模式下在通过隔离电路切断虚设单元块和OTP单元阵列的连接之后，对耦合到多条读取字线和多条电压字线的行解码器以及耦合到多条位线的列解码器执行第一测试，如果在第一测试中确定行解码器和列解码器为没有缺陷，则在第二测试模式下对OTP单元阵列执行第二测试，并且基于第二测试结果，确定OTP存储器设备是否有缺陷。