[发明专利]用于定位缺陷的方法和装置

权利要求书

1.一种用于定位缺陷的方法，包括：

获取缺陷产品的树结构和多个合格产品的树结构，其中，所述多个合格产品与所述缺陷产品型号相同，所述树结构用于记录产品的生产过程；

基于所述缺陷产品的树结构和所述多个合格产品的树结构，计算所述缺陷产品与所述多个合格产品的相似度；

基于所计算出的相似度，从所述多个合格产品的树结构中选取至少一个合格产品的树结构；

基于所述缺陷产品的树结构和所述至少一个合格产品的树结构，计算所述缺陷产品与所述至少一个合格产品的差异；

基于所计算出的差异，定位所述缺陷产品的缺陷。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述树结构包括多个层，每一层包括至少一个节点，每个节点存储产品的生产过程中的原材料、中间产物和最终产品中的一项，相邻层的节点之间的边存储产品的生产过程中的参数。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述树结构的根节点存储最终产品，所述树结构的叶子节点存储原材料，所述树结构的中间节点存储中间产物，存储最终产品或中间产物的节点与存储用来生产该最终产品或该中间产物的原材料或中间产物的节点为父子关系，父节点与子节点之间的边存储由该子节点存储的原材料或中间产物生产父节点存储的最终产品或中间产物的生产过程中的参数。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述基于所述缺陷产品的树结构和所述多个合格产品的树结构，计算所述缺陷产品与所述多个合格产品的相似度，包括：

计算所述缺陷产品的树结构与所述多个合格产品的树结构的编辑距离；

基于所计算出的编辑距离，确定所述缺陷产品与所述多个合格产品的相似度。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，计算编辑距离的编辑操作包括以下至少一项：

删除节点，并且若所删除的节点是中间节点，将所删除的节点的子节点连接到所删除的节点的父节点；

在父节点与子节点之间插入中间节点；

修改节点中存储的信息。

6.根据权利要求3所述的方法，其中，所述基于所述缺陷产品的树结构和所述至少一个合格产品的树结构，计算所述缺陷产品与所述至少一个合格产品的差异，包括：

将所述缺陷产品的树结构和所述至少一个合格产品的树结构中存储的连续值离散化，得到所述缺陷产品的模糊树和所述至少一个合格产品的模糊树；

计算所述缺陷产品的模糊树与所述至少一个合格产品的模糊树的编辑距离，确定所述缺陷产品的模糊树到所述至少一个合格产品的模糊树的更改信息；

基于所计算出的更改信息，确定所述缺陷产品与所述至少一个合格产品的差异。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，将连续值离散化的算法是K均值聚类算法。

8.根据权利要求6所述的方法，其中，若在同一生产过程中使用多个批次的同一原材料或中间产品，对部分批次进行剪枝，将用量信息合并到剩余批次中。

9.根据权利要求6所述的方法，其中，所述基于所计算出的差异，定位所述缺陷产品的缺陷，包括：

统计所计算出的差异的成因，得到所述缺陷产品的缺陷成因和概率。

10.一种用于定位缺陷的装置，包括：

获取单元，被配置成获取缺陷产品的树结构和多个合格产品的树结构，其中，所述多个合格产品与所述缺陷产品型号相同，所述树结构用于记录产品的生产过程；

第一计算单元，被配置成基于所述缺陷产品的树结构和所述多个合格产品的树结构，计算所述缺陷产品与所述多个合格产品的相似度；

选取单元，被配置成基于所计算出的相似度，从所述多个合格产品的树结构中选取至少一个合格产品的树结构；

第二计算单元，被配置成基于所述缺陷产品的树结构和所述至少一个合格产品的树结构，计算所述缺陷产品与所述至少一个合格产品的差异；

定位单元，被配置成基于所计算出的差异，定位所述缺陷产品的缺陷。