[发明专利]用于定位缺陷的方法和装置

说明书

本申请实施例公开了用于定位缺陷的方法和装置。该方法的一具体实施方式包括：获取缺陷产品的树结构和多个合格产品的树结构，其中，多个合格产品与缺陷产品型号相同，树结构用于记录产品的生产过程；基于缺陷产品的树结构和多个合格产品的树结构，计算缺陷产品与多个合格产品的相似度；基于所计算出的相似度，从多个合格产品的树结构中选取至少一个合格产品的树结构；基于缺陷产品的树结构和至少一个合格产品的树结构，计算缺陷产品与至少一个合格产品的差异；基于所计算出的差异，定位缺陷产品的缺陷。该实施方式涉及云计算领域，提供了一种有效的缺陷定位方式。

技术领域

本申请实施例涉及计算机技术领域，具体涉及用于定位缺陷的方法和装置。

背景技术

对于生产过程中的缺陷产品也就是不合格产品分析并定位缺陷，可以节省大量的缺陷定位的时间成本。目前，一般是将缺陷产品的生产过程拉平为一个一维向量，并固定维度。对输入的向量做特征工程并进行预测，得到特征重要度排序。然而，特征重要度排序是无法定位到具体缺陷问题所在的，因此无法解决缺陷定位的问题。

发明内容

本申请实施例提出了用于定位缺陷的方法和装置。

第一方面，本申请实施例提出了一种用于定位缺陷的方法，包括：获取缺陷产品的树结构和多个合格产品的树结构，其中，多个合格产品与缺陷产品型号相同，树结构用于记录产品的生产过程；基于缺陷产品的树结构和多个合格产品的树结构，计算缺陷产品与多个合格产品的相似度；基于所计算出的相似度，从多个合格产品的树结构中选取至少一个合格产品的树结构；基于缺陷产品的树结构和至少一个合格产品的树结构，计算缺陷产品与至少一个合格产品的差异；基于所计算出的差异，定位缺陷产品的缺陷。

在一些实施例中，树结构包括多个层，每一层包括至少一个节点，每个节点存储产品的生产过程中的原材料、中间产物和最终产品中的一项，相邻层的节点之间的边存储产品的生产过程中的参数。

在一些实施例中，树结构的根节点存储最终产品，树结构的叶子节点存储原材料，树结构的中间节点存储中间产物，存储最终产品或中间产物的节点与存储用来生产该最终产品或该中间产物的原材料或中间产物的节点为父子关系，父节点与子节点之间的边存储由该子节点存储的原材料或中间产物生产父节点存储的最终产品或中间产物的生产过程中的参数。

在一些实施例中，基于缺陷产品的树结构和多个合格产品的树结构，计算缺陷产品与多个合格产品的相似度，包括：计算缺陷产品的树结构与多个合格产品的树结构的编辑距离；基于所计算出的编辑距离，确定缺陷产品与多个合格产品的相似度。

在一些实施例中，计算编辑距离的编辑操作包括以下至少一项：删除节点，并且若所删除的节点是中间节点，将所删除的节点的子节点连接到所删除的节点的父节点；在父节点与子节点之间插入中间节点；修改节点中存储的信息。

在一些实施例中，基于缺陷产品的树结构和至少一个合格产品的树结构，计算缺陷产品与至少一个合格产品的差异，包括：将缺陷产品的树结构和至少一个合格产品的树结构中存储的连续值离散化，得到缺陷产品的模糊树和至少一个合格产品的模糊树；计算缺陷产品的模糊树与至少一个合格产品的模糊树的编辑距离，确定缺陷产品的模糊树到至少一个合格产品的模糊树的更改信息；基于所计算出的更改信息，确定缺陷产品与至少一个合格产品的差异。

在一些实施例中，将连续值离散化的算法是K均值聚类算法。

在一些实施例中，若在同一生产过程中使用多个批次的同一原材料或中间产品，对部分批次进行剪枝，将用量信息合并到剩余批次中。

在一些实施例中，基于所计算出的差异，定位缺陷产品的缺陷，包括：统计所计算出的差异的成因，得到缺陷产品的缺陷成因和概率。