[发明专利]适用于轧辊的超声波检测信号聚合显示方法及系统

权利要求书

1.一种适用于轧辊的超声波检测信号聚合显示方法，其特征在于，包括：

超声波A扫数据获取步骤：采集目标结构上设定位置的超声波A扫数据，获取按时间采样序列值信息；

最大值序列获取步骤：根据按时间采样序列值信息，获取时间采样最大值序列信息；

二维矩阵获取步骤：根据时间采样最大值序列信息，获取时间采样最大值序列二维矩阵信息；

检测信号聚合显示步骤：根据时间采样最大值序列二维矩阵信息，获取检测信号聚合显示结果信息；

缺陷显示步骤：根据检测信号聚合显示结果信息，获取缺陷位置分布信息；

所述缺陷位置分布信息指导缺陷在目标结构上的位置分布状态；

所述超声波A扫数据获取步骤包括：

超声波A扫数据获取子步骤：取得轧辊在轴向上第1个位置的所有周向超声波A扫数据A1、A2、A3……AM，即轧辊在轴向上第1个位置一共拥有M个周向超声波A扫数据，其中A1是由A1a1、A1a2、A1a3、A1a4……A1aN组成的按时间采样序列值，A2是由A2a1、A2a2、A2a3、A2a4……A2aN组成的按时间采样序列值，A3是由A3a1、A3a2、A3a3、A3a4……A3aN组成的按时间采样序列值，AM是由AMa1、AMa2、AMa3、AMa4……AMaN组成的按时间采样序列值，在A1、A2、A3……AM中，均具有N个按时间采样序列值,M、N为正整数；

所述最大值序列获取步骤包括：

最大值序列获取子步骤：将A1a1、A2a1、A3a1……AMa1作为一个集合，取得其中的最大值，记为Aa1；将A1a2、A2a2、A3a2……AMa2作为一个集合，取得其中的最大值，记为Aa2，以此类推，取得Aa3、Aa4、Aa5、Aa6……AaN；将Aa1、Aa2、Aa3、Aa4、Aa5、Aa6……AaN记为轧辊在轴向上第1个位置P1的周向超声波A扫数据的时间采样最大值序列P1A；

所述二维矩阵获取步骤包括：

二维矩阵获取子步骤：获取轧辊在轴向上第2个位置、第3个位置……第K个位置所对应的序列P2A、P3A……PKA；P1A、P2A、P3A……PKA即构成一个二维矩阵；

所述检测信号聚合显示步骤包括：

检测信号聚合显示子步骤：将P1A、P2A、P3A……PKA这个二维矩阵上的点用亮度梯度或者颜色梯度显示出来，获取检测信号聚合显示结果信息；所述检测信号聚合显示结果信息将轧辊的超声波A扫数据按照轴向位置全部聚合在一个二维平面上。

2.根据权利要求1所述的适用于轧辊的超声波检测信号聚合显示方法，其特征在于，所述缺陷显示步骤包括：

缺陷深度分布显示步骤：根据检测信号聚合显示结果信息，获取缺陷深度分布信息；

缺陷强度分布显示步骤：根据检测信号聚合显示结果信息，获取缺陷强度分布信息；

所述缺陷深度分布信息指导缺陷在目标结构上的深度分布状态；

所述缺陷强度分布信息指导缺陷在目标结构上的强度分布状态。

3.根据权利要求2所述的适用于轧辊的超声波检测信号聚合显示方法，其特征在于，还包括：

缺陷统计图表获取步骤：根据缺陷位置分布信息、缺陷深度分布信息以及缺陷强度度分布信息，获取缺陷统计图表信息。