[发明专利]适用于轧辊的超声波检测信号聚合显示方法及系统

说明书

本发明提供了一种适用于轧辊的超声波检测信号聚合显示方法及系统，包括：超声波A扫数据获取步骤：采集目标结构上设定位置的超声波A扫数据，获取按时间采样序列值信息；最大值序列获取步骤：根据按时间采样序列值信息，获取时间采样最大值序列信息；二维矩阵获取步骤：根据时间采样最大值序列信息，获取时间采样最大值序列二维矩阵信息；检测信号聚合显示步骤：根据时间采样最大值序列二维矩阵信息，获取检测信号聚合显示结果信息；缺陷显示步骤：根据检测信号聚合显示结果信息，获取缺陷位置分布信息。使用本发明，在数值处理中采用了最大值保留方法，最终显示结果中保留了所有最大值缺陷信息，不会造成漏检。

技术领域

本发明涉及数字处理领域，具体地，涉及一种适用于轧辊的超声波检测信号聚合显示方法及系统，尤其涉及一种轧辊超声波检测信号聚合及显示方法。

背景技术

在轧辊超声波检测中，用户非常希望了解轧辊缺陷深层次的缺陷信息，包括缺陷在深度和强度方面的分布，同时还需要知道缺陷在轧辊轴向上的位置分布。但现有的信号处理方法无法完全聚合一根轧辊上的所有缺陷，也无法同时显示缺陷在深度和强度方面的分布以及缺陷在轧辊轴向上的位置分布。

专利文献CN101949896B公开了一种轧辊超声波检测装置，包括探头控制箱、下位机和上位机，其特征在于：还包括超声波探头组件；所述探头控制箱与下位机双向通讯，其根据所述下位机的指示控制所述探头组件的机械运动与定位，并控制所述探头组件中的各超声波传感器依次发射超声波脉冲信号，同时接收所述各超声波传感器的各个通道的回波信号，并按时间序列将所述回波信号送往所述下位机；所述下位机将其接收到的所述回波信号进行检波和采样处理后转变为视频信号送至所述上位机中显示。该专利在轧辊缺陷深层次的缺陷信息聚合显示上仍有待提升的空间。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明的目的是提供一种适用于轧辊的超声波检测信号聚合显示方法及系统。

根据本发明提供的一种适用于轧辊的超声波检测信号聚合显示方法，包括：超声波A扫数据获取步骤：采集目标结构上设定位置的超声波A扫数据，获取按时间采样序列值信息；最大值序列获取步骤：根据按时间采样序列值信息，获取时间采样最大值序列信息；二维矩阵获取步骤：根据时间采样最大值序列信息，获取时间采样最大值序列二维矩阵信息；检测信号聚合显示步骤：根据时间采样最大值序列二维矩阵信息，获取检测信号聚合显示结果信息；缺陷显示步骤：根据检测信号聚合显示结果信息，获取缺陷位置分布信息；所述缺陷位置分布信息指导缺陷在目标结构上的位置分布状态。

优选地，所述缺陷显示步骤包括：缺陷深度分布显示步骤：根据检测信号聚合显示结果信息，获取缺陷深度分布信息；缺陷强度分布显示步骤：根据检测信号聚合显示结果信息，获取缺陷强度分布信息；所述缺陷深度分布信息指导缺陷在目标结构上的深度分布状态；所述缺陷强度分布信息指导缺陷在目标结构上的强度分布状态。

优选地，所述超声波A扫数据获取步骤包括：超声波A扫数据获取子步骤：取得轧辊在轴向上第1个位置的所有周向超声波A扫数据A1、A2、A3……AM，即轧辊在轴向上第1个位置一共拥有M个周向超声波A扫数据，其中A1是由A1a1、A1a2、A1a3、A1a4……A1aN组成的按时间采样序列值，A2是由A2a1、A2a2、A2a3、A2a4……A2aN组成的按时间采样序列值，A3是由A3a1、A3a2、A3a3、A3a4……A3aN组成的按时间采样序列值，AM是由AMa1、AMa2、AMa3、AMa4……AMaN组成的按时间采样序列值，在A1、A2、A3……AM中，均具有N个按时间采样序列值,M、N为正整数；所述最大值序列获取步骤包括：最大值序列获取子步骤：将A1a1、A2a1、A3a1……AMa1作为一个集合，取得其中的最大值，记为Aa1；将A1a2、A2a2、A3a2……AMa2作为一个集合，取得其中的最大值，记为Aa2，以此类推，取得Aa3、Aa4、Aa5、Aa6……AaN；将Aa1、Aa2、Aa3、Aa4、Aa5、Aa6……AaN记为轧辊在轴向上第1个位置P1的周向超声波A扫数据的时间采样最大值序列P1A。