[发明专利]一种设备测试方法、系统、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种设备测试方法，其特征在于，包括：

向目标设备发送测试指令，以便所述目标设备控制功能模块执行所述测试指令对应的测试操作得到功能测试结果；

判断是否接收到所有所述功能模块的功能测试结果；

若是，则根据所有所述功能测试结果生成第一设备检测结果；

当测试时长大于标准时长时，根据已接收到的功能测试结果生成第二设备检测结果；其中，所述测试时长为当前时刻与发送所述测试指令的时刻之间的时间长度。

2.根据权利要求1所述设备测试方法，其特征在于，还包括：

当所述功能测试结果为测试失败时，生成所述第一设备检测结果或所述第二设备检测结果对应的诊断报告；其中，所述诊断报告包括测试失败的功能模块的测试参数。

3.根据权利要求1所述设备测试方法，其特征在于，所述功能模块包括存在功能关联的第一类功能模块和第二类功能模块；

相应的，还包括：

当所述第一类功能模块的功能测试结果为测试失败时，判断是否接收到所述第二类功能模块的功能测试结果；

若否，则将所述第二类功能模块的功能测试结果设置为测试失败，并向所述目标设备发送测试停止指令，以便所述目标设备停止对所述第二类功能模块的测试操作。

4.根据权利要求1所述设备测试方法，其特征在于，还包括：

当所述功能测试结果为测试失败时，向所述目标设备发送重新测试指令以便所述目标设备对测试失败的功能模块重新执行测试操作。

5.根据权利要求4所述设备测试方法，其特征在于，还包括：

记录所述目标设备对同一所述功能模块的测试次数；

当所述测试次数大于预设次数时，将所述测试次数大于预设次数的功能模块对应的功能测试结果设置为测试失败，并停止发送所述重新测试指令。

6.根据权利要求1所述设备测试方法，其特征在于，所述功能模块包括网络模块、GPS模块、Flash模块和IO模块中的任一项或任几项的组合。

7.根据权利要求1至6任一项所述设备测试方法，其特征在于，还包括：

确定已生成所述功能测试结果的功能模块占所有所述功能模块的模块比例；

根据所述模块比例和所述测试时长确定所述标准时长；其中，所述模块比例与所述标准时长负相关，所述测试时长与所述标准时长正相关。

8.一种设备测试系统，其特征在于，包括：

测试模块，用于向目标设备发送测试指令，以便所述目标设备控制功能模块执行所述测试指令对应的测试操作得到功能测试结果；

判断模块，用于判断是否接收到所有所述功能模块的功能测试结果；

第一结果生成模块，用于当接收到所有所述功能模块的功能测试结果时，根据所有所述功能测试结果生成第一设备检测结果；

第二结果生成模块，用于当测试时长大于标准时长时，根据已接收到的功能测试结果生成第二设备检测结果；其中，所述测试时长为当前时刻与发送所述测试指令的时刻之间的时间长度。

9.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器调用所述存储器中的计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述设备测试方法的步骤。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令被处理器加载并执行时，实现如上权利要求1至7任一项所述设备测试方法的步骤。