[发明专利]一种设备测试方法、系统、电子设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种设备测试方法，所述方法包括向目标设备发送测试指令，以便所述目标设备控制功能模块执行所述测试指令对应的测试操作得到功能测试结果；判断是否接收到所有所述功能模块的功能测试结果；若是，则根据所有所述功能测试结果生成第一设备检测结果；当测试时长大于标准时长时，根据已接收到的功能测试结果生成第二设备检测结果；其中，所述测试时长为当前时刻与发送所述测试指令的时刻之间的时间长度，本申请能够提高设备检测的效率。本申请还公开了一种设备测试系统、一种存储介质及一种电子设备，具有以上有益效果。

技术领域

本申请涉及设备检修技术领域，特别涉及一种设备测试方法、系统、一种电子设备及一种存储介质。

背景技术

在设备生产过程中需要对设备的各项功能进行检测，以便了解设备实际的性能状况。相关技术中，对设备进行功能检测时，需要等待一个设置的固定时长，达到固定时长后根据单项检测结果汇总给出检测报告。但是，使用上述方式，如果时间设置过短则会出现有些项来不及测试从而测试报告不合格，如果时间设置过长则会出现所有单项结果检测已经完成，但是测试报告却还需要等时间到了才能给出，造成长时间等待。

因此，如何提高设备检测的效率是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种设备测试方法、系统、一种电子设备及一种存储介质，能够提高设备检测的效率。

为解决上述技术问题，本申请提供一种设备测试方法，该设备测试方法包括：

向目标设备发送测试指令，以便所述目标设备控制功能模块执行所述测试指令对应的测试操作得到功能测试结果；

判断是否接收到所有所述功能模块的功能测试结果；

若是，则根据所有所述功能测试结果生成第一设备检测结果；

当测试时长大于标准时长时，根据已接收到的功能测试结果生成第二设备检测结果；其中，所述测试时长为当前时刻与发送所述测试指令的时刻之间的时间长度。

可选的，还包括：

当所述功能测试结果为测试失败时，生成所述第一设备检测结果或所述第二设备检测结果对应的诊断报告；其中，所述诊断报告包括测试失败的功能模块的测试参数。

可选的，所述功能模块包括存在功能关联的第一类功能模块和第二类功能模块；

相应的，还包括：

当所述第一类功能模块的功能测试结果为测试失败时，判断是否接收到所述第二类功能模块的功能测试结果；

若否，则将所述第二类功能模块的功能测试结果设置为测试失败，并向所述目标设备发送测试停止指令，以便所述目标设备停止对所述第二类功能模块的测试操作。

可选的，还包括：

当所述功能测试结果为测试失败时，向所述目标设备发送重新测试指令以便所述目标设备对测试失败的功能模块重新执行测试操作。

可选的，还包括：

记录所述目标设备对同一所述功能模块的测试次数；

当所述测试次数大于预设次数时，将所述测试次数大于预设次数的功能模块对应的功能测试结果设置为测试失败，并停止发送所述重新测试指令。

可选的，所述功能模块包括网络模块、GPS模块、Flash模块和IO模块中的任一项或任几项的组合。

可选的，还包括：

确定已生成所述功能测试结果的功能模块占所有所述功能模块的模块比例；