[发明专利]具有训练操作的半导体系统

说明书

本申请公开了具有训练操作的半导体系统。半导体系统包括从设备和主设备，其中，从设备包括多个单位存储区，并且被配置为将通过对参考数据和测试数据进行比较而生成的判定结果数据传送到主设备，并且其中，主设备被配置为将参考数据和测试数据写入在多个单位存储区中。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2018年12月24日在韩国知识产权局提交的申请号为10-2018-0168424的韩国申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

各种实施例总体上涉及一种半导体设备，并且更具体地，涉及一种具有训练(training)操作的半导体系统。

背景技术

随着半导体系统的操作加速，用于检查从设备(例如，半导体存储器)是否准确地接收到从主设备(例如，存储器控制器、CPU或GPU)提供的信号的训练功能是很有用的。

训练功能可以包括命令训练、写入训练或/和读取训练，并且可以选择性地执行它们之中的至少一个。

写入训练可以是下面这样的操作：主设备将预设模式的数据发送到从设备，从设备将从主设备发送的数据传送回主设备，并且主设备判定自从设备传送的数据，即判定它是通过(pass)还是失败并基于其结果来检测数据眼图(data eye)的中心。

发明内容

在一个实施例中，一种半导体系统可以包括：从设备和主设备，其中，所述从设备可以包括多个单位存储区，并且可以被配置为将通过比较参考数据和测试数据而生成的判定结果数据传送至所述主设备，并且其中所述主设备可以被配置为将所述参考数据和所述测试数据写入所述多个单位存储区中。

在一个实施例中，一种半导体系统可以包括：从设备和主设备，其中所述从设备可以包括多个单位存储区和用于将从所述多个单位存储区输出的数据并行化的管道寄存器，并且可以被配置为传送通过经过比较参考数据和测试数据来判定测试数据是否通过而生成的判定结果数据，并且其中所述主设备可以被配置为执行第一训练操作和第二训练操作中的至少一个，所述第一训练操作是将所述参考数据和所述测试数据写入到所述多个单位存储区中并检测所述判定结果数据的数据眼图的中心，所述第二训练操作是将所述测试数据写入所述管道寄存器中、读取所述测试数据以及判定所读取的测试数据是否通过。

附图说明

图1是用来帮助解释根据一个实施例的用于训练半导体系统的方法的流程图的示例的表示。

图2是示出根据实施例的半导体系统的配置的示例的表示的示图。

图3是示出图2的存储体的配置的示例的表示的示图。

图4是示出图2的控制电路的配置的示例的表示的示图。

图5是示出图2的判定电路的配置的示例的表示的示图。

图6是用来帮助解释根据另一实施例的用于训练半导体系统的方法的流程图的示例的表示。

图7是示出根据另一实施例的半导体系统的配置的示例的表示的示图。

图8是示出图7的控制电路的配置的示例的表示的示图。

具体实施方式

在下文中，以下将参考附图通过实施例的各种示例来描述具有训练功能的半导体系统。

各种实施例可以针对具有训练功能的半导体系统，该半导体系统能够缩短训练执行时间并增加训练操作的准确性。

图1是用来帮助解释根据一个实施例的用于训练半导体系统的方法的流程图的示例的表示。