[发明专利]用于非挥发性存储器的测试校调方法及测试校调电路

说明书

本申请涉及半导体集成电路设计和测试技术领域，具体涉及一种用于非挥发性存储器的测试校调方法及测试校调电路。用于非挥发性存储器的测试校调方法包括：接收控制信号；根据所述控制信号确定工作模式；从非挥发性存储器中读出修整数据；当所述工作模式为用户模式时，验证所述修整数据与前次写入所述非挥发性存储器中的数据是否一致；一致时，发送反馈信号。用于非挥发性存储器的测试校调电路包括：接口模块、模式控制模块、测试模块和响应分析模块；所述接口模块用于接收控制信号。本申请通过选择工作模式后从非挥发性存储器的OTP区中自动载入修整数据，从而能够简化用户模式下的验证流程。

技术领域

本申请涉及半导体集成电路设计和测试技术领域，具体涉及一种用于非挥发性存储器的测试校调方法及测试校调电路。

背景技术

非挥发性存储器又称非易失性存储器，其存储的信息在电源关掉之后依然能长时间存在，不易丢失。非挥发性存储器在初始测试阶段需要通过测试校调电路对其性能进行调整和验证，才能使其发挥最佳性能。

相关技术中的校调电路包括用户控制模块和内建测试单元，用户控制模块和内建测试单元分别需要通过开关选择模块从存储器中顺序读出修整数据，完成各自模式下修整参数的读出和比较才能使得系统稳定工作。

然而，相关技术中的校调电路对数据寄存要求较高，需要用到开关选择模块，系统连接复杂，操作流程繁琐。

发明内容

本申请提供了一种用于非挥发性存储器的校调方法及其校调电路，可以解决相关技术中系统连接复杂，操作流程繁琐的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种用于非挥发性存储器的测试校调方法，包括：

接收控制信号；

根据控制信号确定工作模式；

从非挥发性存储器的OTP区(One Time Programmable，一次性可编程区)中读出修整数据；

当工作模式为用户模式时，验证修整数据与前次写入非挥发性存储器中的数据是否一致；

当修整数据与前次写入非挥发性存储器中的数据一致时，发送反馈信号。

可选的，当工作模式为测试模式时，对修整数据进行校调生成校调数据；

将校调数据写入非挥发性存储器的OTP区；

可选的，对修整数据进行校调生成校调数据，包括：

通过生成测试向量对修整数据进行校调生成校调数据。

可选的，验证修整数据与前次写入非挥发性存储器中的数据是否一致，包括：

将修整数据与修整数据的反值进行比对；

当修整数据与反值相匹配时，确定修整数据与前次写入非挥发性存储器中数据一致。

可选的，从非挥发性存储器中读出修整数据和修整数据的反值。

第二方面，提供一种用于非挥发性存储器的测试校调电路，用于非挥发性存储器的测试校调电路包括：接口模块、模式控制模块、测试模块和响应分析模块；

接口模块用于接收控制信号；

模式控制模块用于根据控制信号确定工作模式，工作模式包括用户模式；

测试模块用于从非挥发性存储器的OTP区中读出修整数据，当工作模式为用户模式时，验证修整数据与前次写入非挥发性存储器中的数据是否一致，并输出验证结果给响应分析模块；

响应分析模块用于当验证结果为修整数据与前次写入非挥发性存储器中的数据一致时，发送反馈信号。