[发明专利]一种密封设备环境温度检测方法、控制器、电路及系统

权利要求书

1.一种密封设备环境温度检测方法，其特征在于，包括：

确定热源的热功率和风场的风量，所述热源和所述风场皆影响所述密封设备的实际环境温度值；

根据所述热功率，计算第一环境温度修正值；

判断所述第一环境温度修正值是否大于或等于预设参考值；

若是，根据所述风量，计算第二环境温度修正值，根据所述第一环境温度修正值和所述第二环境温度修正值，计算环境温度修正值；

采样所述密封设备的内部温度值；

根据所述内部温度值和所述环境温度修正值，计算所述密封设备的所述实际环境温度值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述热功率，计算所述第一环境温度修正值，包括：

获取第一线性度曲线，所述第一线性度曲线用于描述所述热功率与环境温度偏差率的相关性；

根据所述第一线性度曲线和所述热功率，计算所述第一环境温度修正值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述热功率可被划分成若干段热源子功率区间，所述根据所述第一线性度曲线和所述热功率，计算所述第一环境温度修正值，包括：

确定每个所述热源子功率区间在所述第一线性度曲线对应的目标线性区间，其中，所述第一线性度曲线包含若干段线性函数，每个所述线性函数皆对应一个线性区间，每个所述热源子功率区间皆对应一个所述线性区间；

根据每个所述热源子功率区间及所述目标线性区间对应的线性函数，计算与每个所述热源子功率区间对应的第一环境温度偏差值；

累加所述热功率中各个所述热源子功率区间对应的所述第一环境温度偏差值，得到所述第一环境温度修正值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述风量，计算所述第二环境温度修正值，包括：

获取第二线性度曲线，所述第二线性度曲线用于描述风量与所述环境温度偏差率的相关性；

根据所述第二线性度曲线和所述风量，计算所述第二环境温度修正值。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述风量可被划分成若干子风量区间，所述根据所述第二线性度曲线和所述风量，计算所述第二环境温度修正值，包括：

确定每个所述子风量区间在所述第二线性度曲线的目标线性区间，其中，所述第二线性度曲线包含若干段线性函数，每个所述线性函数皆对应一个线性区间，每个所述子风量区间皆对应一个所述线性区间；

根据每个所述子风量区间及所述目标线性区间对应的线性函数，计算与每个所述子风量对应的第二温度偏差值；

累加所述风量中各个所述子风量区间对应的第二温度偏差值，得到所述第二环境温度修正值。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述确定热源的热功率，包括：

采样所述热功率；

判断第一采样时间是否达到第一预设时间；

若是，将最近的所述第一预设时间段内的所述热功率进行平均化处理，并确定所述热功率；

若否，将所述第一采样时间段内的所述热功率进行平均化处理，并确定所述热功率。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述将所述第一采样时间段内的所述热功率进行平均化处理，并确定所述热功率，包括：

将所述第一采样时间段内的所述热功率进行积分，获取第一积分值；

根据所述第一积分值和所述第一预设时间，确定所述热功率。

8.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述确定风场的风量，包括：

采样所述风场的风量；

判断第二采样时间是否达到第二预设时间；

若是，将最近的所述第二预设时间段内的所述风场的风量进行平均化处理，并确定所述风场的风量；

若否，将所述第二采样时间段内的所述风场的风量进行平均化处理，并确定所述风场的风量。