[发明专利]一种密封设备环境温度检测方法、控制器、电路及系统

说明书

本发明涉及环境温度检测领域，公开一种密封设备环境温度检测方法、控制器、电路及系统，其中，该密封设备环境温度检测方法包括：首先确定热源的热功率和风场的风量，该热源和风场皆影响密封设备的实际环境温度值，然后根据热功率和风量，计算环境温度修正值，再采样该密封设备的内部温度值，最后根据内部温度值和环境温度修正值，计算该密封设备的实际环境温度值。因此，该方法的环境温度修正值可以跟随热功率和风量的改变而改变，不同环境下的环境温度修正值不同，该环境温度修正值进而影响密封设备检测的实际环境温度值，从而使得密封设备的实际环境温度值的检测更加精确。

技术领域

本发明涉及环境温度检测领域，特别是涉及一种密封设备环境温度 检测方法、控制器、电路及系统。

背景技术

在电力电子设备的应用场合中，需要对环境温度进行检测。目前很 多环境温度检测方法是直接采用传感器采样设备所处的环境温度，但当 有热源、风场干扰，且设备是密封时，传感器不能直接接触到外部环境， 若直接采用传感器采样环境温度，会使得环境温度的采样误差很大，甚 至使得环境温度采样误差达到±15°，对于一些对环境温度比较敏感的 电子设备，由于环境温度采样的误差，使得电子设备无法进行有效的散 热，进而就会使得电子设备运行的可靠性降低，甚至无法正常工作。

发明内容

本发明实施例一个目的旨在提供一种密封设备环境温度检测方法、 控制器、电路及系统，以能够对密封设备环境温度进行精确检测。

为解决上述技术问题，本发明实施例采用的一个技术方案是：

在第一方面，本发明实施例提供一种密封设备环境温度检测方法， 包括：

确定热源的热功率和风场的风量，所述热源和所述风场皆影响所述 密封设备的实际环境温度值；

根据所述热功率和所述风量，计算环境温度修正值；

采样所述密封设备的内部温度值；

根据所述内部温度值和所述环境温度修正值，计算所述密封设备的 所述实际环境温度值。

在一些实施例中，所述环境温度修正值包括第一环境温度修正值和 第二环境温度修正值，所述根据所述热源功率和所述风量，计算环境温 度修正值，包括：

根据所述热功率，计算所述第一环境温度修正值；

判断所述第一环境温度修正值是否大于或等于预设参考值；

若是，根据所述风量，计算所述第二环境温度修正值，根据所述第 一环境温度修正值和所述第二环境温度修正值，计算所述环境温度修正 值。

在一些实施例中，所述根据所述热功率，计算所述第一环境温度修 正值，包括：

获取第一线性度曲线，所述第一线性度曲线用于描述所述热功率与 环境温度偏差率的相关性；根据所述第一线性度曲线和所述热功率，计 算所述第一环境温度修正值。

在一些实施例中，

所述热功率可被划分成若干段热源子功率区间，所述根据所述第一 线性度曲线和所述热功率，计算所述第一环境温度修正值，包括：

确定每个所述热源子功率区间在所述第一线性度曲线对应的目标 线性区间，其中，所述第一线性度曲线包含若干段线性函数，每个所述 线性函数皆对应一个线性区间，每个所述热源子功率区间皆对应一个所 述线性区间；

根据每个所述热源子功率区间及所述目标线性区间对应的线性函 数，计算与每个所述热源子功率区间对应的第一环境温度偏差值；

累加所述热功率中各个所述热源子功率区间对应的所述第一环境 温度偏差值，得到所述第一环境温度修正值。

在一些实施例中，所述根据所述风量，计算所述第二环境温度修正 值，包括：