[发明专利]一种多台自准直仪光轴平行性校准方法

权利要求书

1.一种多台自准直仪光轴平行性校准方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

步骤1）确定基准和被测自准直仪的自身光轴位置：

1.1）准备一台带十字目标源的自准直仪，将其固定在一个垂直支架上，使出光口大致垂直向下；

1.2）在自准直仪出光口正下方的调节转台上放置平面反射镜，调节转台的俯仰方位角度，使自准直仪出射的光束经反射镜反射回来并在自身显示器上成像；

1.3）旋转放置平面反射镜的转台，调整转台俯仰倾斜角度，观察自准直仪的显示器上的十字像位置，若转动转台时十字像位置不变，十字像位置即为自准直仪光轴位置，标记为基准；

1.4）按照步骤1.1）-1.3）的方法确定被测自准直仪自身光轴位置；

步骤2）调节自准直仪平行性：

若两台自准直仪并排放置，用一块可覆盖两自准直仪口径的平面反射镜对其出射光进行反射，调整各自自准直仪俯仰方位角度，使各自返回十字像都位于自身光轴位置，则两台自准直仪光轴都垂直于平面反射镜，即两台自准直仪平行性调整完毕；

若两台自准直仪位置相对放置，将两台自准直仪大致对准使其相互成像，调整被测自准直仪俯仰方位角度，使对面自准直仪入射的十字像成像在被测自准直仪自身光轴位置上，此时两台自准直仪光轴平行。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若被测自准直仪位置较远，则按上述步骤2）调整完毕后，移动反射镜位置，调整反射镜位置使被测自准直仪返回像与原位置重合，再移动被测自准直仪，调整移动后的被测自准直仪位置，使自准直仪返回像与原位置重合，进而将被测自准直仪平移到所需要的位置。